Ning yorug'lik intensivligiga P

Azot bilan to'ldirilgan qo'lqop qutisidagi HGS va qatlamma-qatlam OQE larning barqarorligi sinovdan o'tkaziladi . Shakl 2e ham HGS, ham qatlamma-qatlamma-qatlam qurilmalari uchun EO’S ning normallashtirilgan vaqt evolyutsiyasi parametrlarini ko'rsatadi, qurilmalar o'xshash parchalanish tendentsiyalarini ko'rsatadi, qatlamma-qatlam OQE esa yaxshiroq barqarorlikni namoyish etadi. 240 soatlik joylashtirishdan so'ng, qatlamma-qatlam va HGS OQElarning EO’S ko'rsatkichlari mos ravishda 22,36% va 19,12% gacha kamaydi. Bu qatlamma-qatlam qurilmalari optimallashtirilgan faol qatlam va yaxshilangan sirt topografiyasi tufayli vaqtga nisbatan yaxshi bardoshlik ekanligini ko'rsatadi.
HGS va qatlamma-qatlam plyonkalarining fotoluminesans (PL) spektrlari 2f-rasmda ko'rsatilganidek, faol qatlamda eksitondan foydalanish jarayonini yoritish uchun o'lchandi. Namunalar D/A (donor-akseptor) interfeysida dissotsilanish va zaryad o'tkazish samaradorligini aniqlash uchun 560 nm da PBB-TSD ni qo'zg'atish orqali tekshirildi. Qatlamma-qatlam va HGS plyonkalari sezilarli darajada floresan yutilishini ko'rsatadi, bu elektronning donordan akseptorga samarali uzatilishini ko'rsatadi. Ularning orasida plyonkalarining floresinsiya yutilish samaradorligi HGS qatlamlariga qaraganda yuqori, bu qatlamma-qatlam plyonkalarining yuqori eksiton dissotsiatsiya samaradorligiga ega ekanligini ko'rsatadi. Bundan tashqari, biz ikkita ishlab chiqarish jarayoni ostida qurilmalarning zaryad o'tkazish va rekombinatsiya jarayonlarini aniqlash uchun J_sc va V_oc ning yorug'lik intensivligiga (P_yorug’lik) bog'liqligini o'rganamiz.