Elektr va magnit kattaliklar qanday kattaliklarga bo‘linadi?

Davlat boshqaruv idorasining metrologik xizmati - mazkur vazirlik (mahkama) doirasida o’lchashlar birliligini ta’minlash ishlarini bajaruvchi va metrologik nazorat hamda tekshiruvini amalga oshiruvchi metrologik xizmat.
Yuridik shaxs metrologik xizmati - mazkur muassasa (tashkilot) da o’lchashlar birliligini ta’minlash ishlarini bajaruvchi va metrologik tekshiruv hamda nazoratini amalga oshiruvchi metrologik xizmat.
Metrologiya bo’yicha milliy idora - davlatda o’lchashlar birliligini ta’minlash ishlariga rahbarlikni bajarishga vakolatli davlat boshqaruv idorasi.
Metrologik tekshiruv - o’lchash jarayoni elementlarini me’yoriy hujjatlar talablariga muvofiqligini aniqlash va tasdiqlashni o’z ichiga olgan vakolatli idoralar va shaxslar faoliyati.
Metrologik nazorat - o’lchash jarayoni elementlarining holati, ishlatilishi va o’rnatilgan tartibda metrologik qoidalar amalga oshirilganligini baholash uchun vakolatli idoralar va shaxslar faoliyati.
O’lchash vositalarini tekshiruvdan o’tkazish - o’lchash vositalarining belgilab qo’yilgan texnikaviy talablarga muvofiqligini aniqlash va tasdiqlash maqsadida davlat metrologiya xizmati idoralari (vakolat berilgan boshqa idoralar, tashkilotlar) tomonidan bajariladigan amallar majmui.
O’lchash vositalarini kalibrlash - metrologik jihatlarning haqiqiy qiymatlarini va o’lchash birliklarining qo’llashga yaroqliligini aniqlash hamda tasdiqlash maqsadida kalibrlash laboratoriyasi bajaradigan amallar majmui.
O’lchash vositalarini ishlab chiqish, yaratish (ta’mirlash, sotish, ijaraga berish) uchun lisenziya - davlat metrologiya xizmati tomonidan yuridik va jismoniy shaxslarga beriladigan, mazkur faoliyat turlari bilan shug’ullanish xuquqini guvohlantiruvchi hujjat

S=25 nF sig‘im qiymatini mikrofarada (mkF), pikofarad (pF) va faradalarda (F) ifodalang.

3 - jadval

T [Tera] = 10^12 G [Giga] = 10^9 M [Mega] = 10^6 K [Kilo] = 10^6 G [Gekto] = 10^2

K > 0 - karrali

d [detse] = 10^-1 s [santi] = 10^-2 m [milli] = 10^-3 mk [mikro] = 10^-6 n [nano] = 10^-9

K < 0 - ulushli

Xulosa sifatida metrologiyaning rivojlanish tarixiga nazar tashlasak, quyidagi muhim bosqichlarni keltirishimiz mumkin.

• 
  1791 yilda metr etaloni Fransiyada qabul qilinishi (1 metr Er meridiani uzunligining 1x10'7 bo’lagiga teng qilib olinganligi);
  
• 
  1875 yilda Parijda 17 davlat tomonidan Xalqaro konvensiyani qabul qilinishi (bu esa mavjud metrik sistemaning takomillashtirishga qaratilgan bo’lib, metr o’lchov birligiga asos soladi);
  
• 
  1893 yilda Rossiyada D.M. Mendeleev tomonidan o’lchov va og’irlik (tarozi) Bosh palatasining tashkil etilishi;
  
• 
  1931 yilda Leningrad shaxrida o’lchov va tarozi Bosh palatasi asosida D.M. Mendeleev nomidagi Butunittifoq metrologiya ilmiy tadqiqot institutining tashkil topishi;
  
• 
  1960 yilda Xalqaro birliklar tizimining SI (SU) qabul qilinishi. Bu tizim bo’yicha 1 metr vakumda to’lqin uzunligining 1650763,73 teng qilib olinishi (Rriptonni etalon metri);
  
• 
  1983 yilda metrni qabul qilishda yorug’likning vakumda
  

1/299792458 sekunda o’tgan yo’liga teng qilib qabul qilinishi;

• 
  1993 yilda O’zbekiston Respublikasi Vazirlar Mahkamasi huzurida O’zbekiston davlat Standartlash, metrologiya va sertifikasiya markazi (O’zdavstandart) tashkil etildi;
  
• 
  2002 yilda O’zbekiston davlat standartlash, metrologiya va sertifikasiya markazi O’zbekiston standartlashtirish, metrologiya va sertifikatlashtirish (“O’zstandart”) agentligiga aylantirildi.
  

Bugungi kunda ham olimlarimiz o’lchash nazariyasi va texnikasi rivoji ustida tinimsiz ilmiy izlanishlar olib borishmoqda.