Mavzu: Metrologiya va ilmiy texnik taraqqiyot. Texnik o’lchash asoslari Tayyorladi: Abdullaev Sh

Mavzu: Metrologiya va ilmiy texnik taraqqiyot. Texnik o’lchash asoslari

Tayyorladi: Abdullaev Sh

Qabul qildi: Qo’shmonov E

Reja

• Metrologiyaning ilmiy muammolari
• Metrologiyaning ilmiy asoslarini takomillashtirish
• Texnik nazorat kontseptsiyasi
• Davlat texnik va sifat nazorati

Kirish

Metrologik ta'minot sanoat qishloq xo'jaligi korxonalari, ilmiy tashkilotlar, ijtimoiy soha, hizmat ko'rsatish sohasi va umuman, yakuniy milliy iqtisodiy natijalar faoliyati yakuniy natijalariga juda katta ta'sir ko'rsatadi. Bu ta'sir metrologik yordamning yakuniy natijalarini o'lchash jarayonlarini ratsionalizatsiya qilishda va birlik va o'lchovlarning aniq o'lchovlari bilan tanishish orqali namoyon bo'ladi. Metrologik ta'minotning xarakterli xususiyati uning natijasi moddiy shaklda mustaqil yakuniy mahsulot emasligi, balki metrologik ta'minot mehnat jarayonini amalga oshirish uchun zarur bo'lgan umumiy moddiy ishlab chiqarish sharoitlarini yaratishga hissa qo’shadi.

Metrologiyaning ilmiy muammolari.

• Metrologik ta'minotning asosiy masalalarini - o'lchashlarning talab qilinayotgan aniqligi va birliligiga erishishni - yechish bilan metrologiyaning asosiy muammolari bevosita bog’liq.
• O'lchashlar birliligi - bu ularning natijalari qonuniy birliklarda ifodalangan va o'lchash xatoliklari ma'lum ehtimollik bilan berilgan o'lchash holati. Shuning uchun metrologiyaning asosiy muammolariga quyidagilar kiradi: o'lchashlarning umumiy nazariyasi; fizik kattaliklarning birligi va ularning tizimi; o'lchash usul va vositalari; o'lchash aniqligini aniqlash usullari; o'lchashlar birliligini va o'lchash vositalarining bir xilligini ta'minlash asoslari; namunaviy o'lchash vositalari va etalonlar; etalon yoki namunaviy o'lchash vositalaridan ishchi o'lchash vositalariga birlik o'lchamlarini uzatish usullari.

Yanada mukammal etalon ishlab chiqish va yaratish metrologiyaning eng muhim muammolaridan biridir, chunki zamonaviy ilmiy tajriba, mikrodunyoning ko'plab hodisalarini o'rganish, fazoda ishlash, zamonaviy texnologik jarayonlar etalon aniqligi bilan solishtirsa bo'ladigan o'lchashlar aniqligini talab qiladi. O'z navbatida fan va texnika yutuqlari metrologlarga nafaqat etalon aniqligini oshirishga erishish, balki etalonlar yaratishning printsipial asoslarini qayta ko'rib chiqishga imkon beradi. Hozirgi vaqtda shu maqsadlarda molekulyar va atom hodisalarni qo'llash bo'yicha jadal ishlar olib borilmoqda.

• Yanada mukammal etalon ishlab chiqish va yaratish metrologiyaning eng muhim muammolaridan biridir, chunki zamonaviy ilmiy tajriba, mikrodunyoning ko'plab hodisalarini o'rganish, fazoda ishlash, zamonaviy texnologik jarayonlar etalon aniqligi bilan solishtirsa bo'ladigan o'lchashlar aniqligini talab qiladi. O'z navbatida fan va texnika yutuqlari metrologlarga nafaqat etalon aniqligini oshirishga erishish, balki etalonlar yaratishning printsipial asoslarini qayta ko'rib chiqishga imkon beradi. Hozirgi vaqtda shu maqsadlarda molekulyar va atom hodisalarni qo'llash bo'yicha jadal ishlar olib borilmoqda.