Termiz Davlat Universiteti Kimyo va texnologiya fakulteti

Termiz Davlat Universiteti

Kimyo va texnologiya fakulteti

Kimyo ta’lim yo’nalishi

II kurs 207-guruh talabasi

Maxammadiyev Izzatullaning

Kolloid kimyo fanidan

Tayyorlagan PREZENTATSIYAsi

Mavzu: Nefelometriya. Elektron mikroskopiya va ultramikroskopiya.

Mavzu: Nefelometriya. Elektron mikroskopiya va ultramikroskopiya.

Reja:

• Nefelometriya haqida ma’lumot;
• Yorug’lik adsorbsiyasi;
• Elektron mikroskopiya;
• Ultramikroskopiya.

Nefelometriya. “Opalessensiya” hodisasiga asoslanib, kolloid eritmalarning konsentratsiyasini va kolloid zarrachaning o’rtacha katta-kichikligini aniqlaydigan asbob nefelometr deb ataladi. Agar ma’lum nur manbaidan foydalanilsa, aniq dispers faza va aniq dispersion muhitlar uchun Reley tenglamasiga kiradigan ba’zi kattaliklar (n1, n2, l, p) o’zgarmay qoladi.

Nefelometrik tekshirish uchun ikkita bir xil slindrik idish olib, ularning biriga konsentratsiyasi ma’lum (standart) kolloid eritma, ikkinchisiga tekshirish uchun berilgan kolloid eritma solinadi. Ikkala idish bitta yorug’lik manbaidan yoritiladi. Bu vaqtda ikkala idishda ham Tindal effekti vujudga keladi. Kolloid eritmalardan tarqalgan nur asbobning tepa qismidagi okulyarga tushadi, tekshiriladigan kolloid eritmaning konsentratsiyasi standart kolloid eritma konsentratsiyasiga teng bo’lmasa, ikkita kolloid eritmalardan tarqalgan yorug’likning intensivligi boshqa-boshqa bo’ladi.

Okulyardan ko’rinadigan ikkita yarim doiraning biri yorug’roq va ikkinchisi qorong’iroq bo’ladi. Kolloid eritmalardan tarqalgan yorug’likning intensivligi zolning konsentratsiyasiga proporsional bo’lganligi uchun tekshiriladigan kolloid eritmaga va standart kolloid eritmaga tushgan nurlar bir xil son zarrachalardan tarqalgandagina okulyardagi ikkala yarim doira bir xilda yoritiladi

Slindrik shisha idishlardan birini ( maxsus moslama yordami bilan ) yuqoriga ko’tarish yoki pastga tushirish orqali idishdagi kollid eritmalarning yoritilayotgan balandliklarni o’zgartirib ikkala yarim doirani birdek yoritishga erishish mumkin.

Yorug’likning adsorbsiyasi. 1760-yilda Lambert va undan oldinroq Buger yorug’likning sochilishini o’rganib, o’tuvchi nur intensivligi bilan yorug’lik o’tayotgan muhitning qalinligi orasidagi bog’lanishni topdilar: Jo’t=J0*e bu yerda: Jo’tuvchi - o’tuvchi nurning intensivligi; J0 – tushayotgan nur intensivligi; k – yutilish koeffitsiyenti; l – yutuvchi qatlamning qalinligi.

Ber eritma bilan absolyut tiniq erituvchilar yutish koeffitsiyentlari erigan moddaning molyar konsentratsiyalariga to’g’ri proporsional ekanligini isbotladi. Yutilishning molyar koeffitsiyentini qiymatini kiritib, o’tayotgan nur intensivligi bilan qatlam qalinligi va erigan modda konsentratsiyalari orasiagi bog’liklikni ifodalovchi Buger Lambert Ber qonunini ifodalaymiz: Jo’t= j0*ekl

Kolloid zarrachaning o’lchamini faqat elektron mikroskopdagina aniq ko’rish mumkin. 1934-yilda elektron mikroskop kashf etildi. Elektron mikroskopda yorug’lik nuri o’rnida elektron oqimidan foydalaniladi, chunki ularni elektromagnit yordamida boshqarish qulay. Bu mukroskop katoddan chiqqan elektronlar oqimi elektromagnit g’altakning magnit maydoniga keladi.

Elektromagnit g’altakning magnit maydoni elektronlarni yig’ib, tekshirilayotgan jismga yuboradi. Elektronlar jismning zich qismlaridan kam, zich bo’lmagan qismlaridan ko’p o’tib, ikkinchi va uchinchi magnit maydonlariga boradi, natijada ekranda yoki fotoplastinkada jismning kattalashgan tasviri hosil bo’ladi.

Kolloid eritma zarrachalarining o’lchami 100 nm dan kichik bo’ladi, ammo ko’zga ko’rinadigan yorug’lik to’lqinining uzunligi 380-760 nm orasida bo’ladi. Shu sababdan oddiy mikroskop vositasida kolloid eritma zarracchalarini ko’rib bo’lmaydi. 1903-yolda Zigmondi Tindal-Faradey effektidan foydalanib, ultramikroskop yasadi.

Ultramikroskop sxemasi: 1. Tekshirish uchun olingan kolloid eritma 2. Yorug’lik manbai 3. Linza 4. Diafragma

Oddiy mikroskop bilan ultramikroskop orasidagi asosiy farq shundaki, oddiy mikroskopda ko’rinadigan jism yorug’lik manbai bilan mikroskop oralig’iga qo’yiladi, ultramikroskopda esa yon tomonidan yoritiladi. Ultramikroskopda manbadan tushayotgan nur bilan ko’rinadigan nur bir-biriga perpendikular bo’ladi va manbadan chiqqan nur mikroskopga tushmaydi, shuning uchun bu mikroskopda yorug’lik ko’rinadi.

Ultramikroskopiya. Ultramikroskopiya metodi kolloid zarrachadan yorug’lik nurining sochilishiga asoslangan. Ultramikroskop yordamida zarrachaning o’lchamini hisoblash uchun aniq vaqt iralig’ida kuchli suyiltirilgan zolning ma’lum hajmidagi zarrachalar soni topiladi.

Ma’lum hajmdagi dispers faza zarrachalari massasi: m = C*V Bitta zarrachaning massasi: m0=m/n=C*V/n ga teng bo’ladi. Bu yerda n-ultramikroskopda ko’rinadigan dispers faza zarrachalarining soni.

Bitta dispers faza zarrachasining hajmi: V0=m0/p=C*V/n*p p-dispers faza zarrachasining zichligi Shar shaklidagi zarracha uchun: V04/3*п*r³ Kub shaklidagi zarracha uchun: V0=l³ Ultramikroskopda zarrachaning o’zi emas, shu zarracha tomonidan tarqatilgan nur ko’rinadi. Ushbu mikroskop yordamida faqat ma’lum hajmdagi kolloid zarrachaning soni hisoblanadi.

Foydalanilgan adabiyotlar: 1. Axmedov Q. S; Raximov H. R kolloid kimyo. Toshkent “O’zbekiston” 1992. 2. Raximov H. R. Fizik va kolloid kimyo, 1978, Toshkent “O’qituvchi” nashriyoti.

E’tiboringiz uchun tashakkur!!!