Mavzu: alangali fotometriya

lg T
C = — ——— (1)
ε ∙ ι ni olamiz va uni differentsiallab
dT
dc = — ———— (2)
2,3T ∙ ε ∙ ι ni keltirib chiqaramiz. (1) va (2) tenglamalarni birlashtirilsa:

dC dT∙ ε ∙ ι dT ΔC ΔT —— = ———— = ——— yoki —— = ——— (3)

C ε ∙ ι ∙ 2,3T lgT TlnT C TlnT
ΔΤ ning ma‘lum qiymatida T ga turli son qiymatlarni berib tenglama (3) orqali nisbiy xatolik ΔS/S ni hisoblab chiqish mumkin. Bunday hisoblash natijalari grafik shaklda ifodalangan. Undan ko’rinadiki, T ning juda kichik va juda kata qiymatlarida nisbiy xatolik keskin ortar ekan. T ning o’rtacha qiymatlarida egri chiziq minimum orqali o’tadi. Yorug’lik yutuvchi qatlamning qalinligi. Buger – Lambert – Ber tenglamasiga ko’ra optik zichliqning qiymati qatlam qalinligiga to’g’ri mutanosib. A = Ξ ∙ C ∙ ι boshqa sharoitlar bir xil bo’lganida qatlam qalinligi ortishi bilan optik zichlik va demak, sezgirlik ham ortishi kerak. Ammo qatlam qalinligi (optik yo’l uzunligi) ortganida yorug’likning sochilishi Bilan bog’liq isroflar ayniqsa eritmalar bilan ishlanganda ko’payadi. Qatlam qalinligi 5 sm dan ortiq bo’lgan kyuvetalar, odatda, fotometrik aniqlashlar uchun ishlatilmaydi. Moddalarning turli materiallarida qo’shimcha tarzida bo’ladigan g’oyat oz miqdorlarini («asarini») aniqlash hollari anlitik praktikada tez – tez uchrab turadi. Masalan, texnik toza metallarda bo’ladigan qo’shimchalarning miqdori protsentning minglab bir ulushlari bilan o’lchanadi; reaktiv sulfat kislotada qo’shimcha tarzida bo’ladigan temir yoki xlorning miqdori protsentning o’n mingdan bir ulushlaridan ortiq bo’lmasligi kerak va hokazo. Elementlarning shu qadar oz miqdorlarini tortma va hajmiy analizning odatdagi metodlari bilan amalda aniqlash mumkin emas, chunki ularning eritmadagi kontsentratsiyalari yetarli darajada bo’lishi uchun tegishli moddalardan analizga juda ko’p miqdorda tortib olish kerak bo’ladi. Bunday hollarda analizning maxsus metodlaridan foydalaniladi; anna shu metodlardan biri kolorimetriya metodidir.