Металлургияда ишлатиладиган микроскоплар

Микроструктурани фотографияси.
Фотонасадкалар таъсир ўлчами 9х12 масштабда олинганда умумий катталаштириш объектив ва окуляр (объктив 40^х , окуляр -10^х умумий катталаштириш 40^х ·10^х =400) катталаштиришларига боғлиқ. Умумий ҳолда микрофотографиядаги кристалл размерини микроскоп окуляри орқали ўлчанган размерга бўлиб катталаштириш қиймати топилади.
Материалларни ўтувчи нур асосида тадқиқот қилиш.
Шаффоф шлифларда ва кукунлар билан иммерсион суюқликлар асосида олиб борилади. Кристалликнинг шаклий ўлчами, кристаллар рангсиз иккиламчи синдириш кўрсаткичи, кристаллардаги оптик кучланиш ва хакозо.
Кристалл релифи. Микроскоп тагида шлифга қаралганда, қавариб турган кристалларни баъзи бир текис кристалларни кўриш мумкин. Кузатиладиган нотекис юза кузатилган, у турли кристалларни нурни синдириш кўрсаткичи турличалигига асосланган. Синдириш кўрсаткичлари катта бўлган кристаллар мусбат релеф хосил қилади.
Агарда шлифда синдириш кўрсаткичлари бир-бирига яқин бўлган кристаллардан ташкил топган бўлса уларнинг нисбий рельефи бир-биридан кам фарқ қилади.
Нур синдириш кўрсаткичлари. Иммерсия усули билан аникланади. Текшириладиган кукун турли синдириш кўрсаткичли суюқликга солинади ва катталаштирилган холда икки шафоф мухит ўртасида ҳосил бўладиган ёриқ юзани текис чизиғини харакати кузатилади.
Микроскоп тубуни секин кўтариб, синдириш кўрсаткичи катта моддага текис чизиғини харакатланишини кузатиш мумкин.
Иммерсион суюқликлар кимёвий ишлаб чиқаришда 98 та суюқликдан иборат стандартлар холда ишлаб чиқилади. Синдириш кўрсаткичлари 1,408-1,780 гача, хар бирини ўртасидаги фарқ 0,004 дан ошмайди. 1,74-2,06 гача. Синдириш кўрсатгичи моддалар хам кимё саноатида ишлаб чиқарилади. Уларнинг асоси метиленшфит олтингугурт сариқ фосфор (5:5:40) (1:1:8). Синдириш кўрсаткичга 2:1 дан катта бўлган ҳолда приперии ва мишяк йодид ва сурма аралашмалардан фойдаланилади. 2,7 атрофида бўлганда эса олтингугурт ва селендан фойдаланилади.
Ўтувчи нур билан аникланадиган кўрсаткичлар.
Кристаллдан ўтувчи конус шаклдаги нур оқими интерференция манзара хосил қилади. Бундан фойдаланиб кристаллни ўқлар сонини (бир ўқли ёки икки ўқли) ёки оптик ишораси (мусбат ёки манфий).
Қайтган нурлар билан материалларни тадқиқоти.
Бундай тадқиқот полировкаланган ёки шаффоф полировка қилинган шлифларда олиб борилади. Бу усулда материални кристалл стурктурасини, ўтувчи нурга қараганда аникроқ кўриш мумкин. Бу шу билан характерланадики ўтувчи нур билан қалинлиги 300 мкм гача бўлган кўпинча кристалларни бир – бирини устига тушадиган холда олиб борилгани учун, кристаллар чегарасини аниклаб бўлмайди. Қайтган нурлар билан қўшалоқ юзалар аник кўринади. Урунма нур остида эса қўшимча маълумотлар олинади.
Қайтган нур ёрдамида муайян фазани миқдорини аниклаш мумкин. Полировка қилинган шлифда ёриқлар хосил қилишини хам (0,005 : 0,008 мм ва бундан катта) кўриш мумкин. Полировка қилинган шлифни бирор бир фазани аниклаш учун турли тарвитни (очувчи) ишлатиш мумкин. Дастлаб CaO ва MgO дан тозалаш учун дастурланган сувдан фойдаланилади, сўнгра 10% ли NH₄Cl эритмасидан ва нихоят 10% ли KOH сувли эритмалардан фойдаланилади.
Реплика усули билан қаттиқ жисмларни ўрганиш. Бунинг учун коллодийдан фойдаланилади. Бу репликани олиш учун жисм устига коллодий эритмасидан қуйилади. Реплика секин ажратиб олинади.

Махсус микроскопик тадқиқ қилиш усуллари.

Микроскоп ёрдамида, физик-кимёвий жараёнларнинг, кинетикасини 200⁰С дан – 185⁰С бўлган хароратлар оралиғида ўрганиш мумкин. Баъзи бир холларда махсус микроскоплардан фойдаланилади: ультра овозли микроскоплар. Шунингдек рангли микрофотография хам ишлатилади.
Кўринадиган нурларда микроскопларнинг махсус турлари.
Қоронғи майдонли, телевизион, фозовий контросли, интерференцияли, инфра қизил, люминесцентли, ультрабинафшали, ультратовушли ва нихоят стерескопик микроскоп. Микрокиноустановка МКУ-1, юқолри хароратли микроскоплар.

Қоронғи майдонли микроскоп. Қия ёритиш усули билан олиб борилади. Тасвирда шлифдаги кристаллар ўсимтасини сояси хосил бўлади. Бу усул билан шлиф юзасида 1-1,5 км билиндликда бўлган кристалларни қайд этиш мумкин.

Телевизион микроскоп. Микроскоп оптик қисмини телевизор трубкасига бириктириш усули билан олиб борилади. Қайтган нурлар фотокатор орқали телевизор трубкасига ва экранга узатилади. Бу микроскопда текширилаётган объект элементларини миқдорий хисобини олиб боришни тезлаштиради.
Куб синогониядаги кристалларнинг фазода бир хил тартибланган текисликлар оиласи кристаллографик индекси (моллар индекси) билан характерланади ва hKl билан белгиланади.
hKl биалн белгиланган индекс деганда – хар бир текисликнинг, маълум бир бирликларда ифодаланган кристаллографик координата ўқларини (х, 4,7) кесиб ўтиши натижасида хосил бўлган кесимга тескари 4 та оддий сон тушунилади.
h, K, l индекслар кесимлар қийматига тескари катталикни умумий кўпайтувчига келтириш ва сўнгра уни ташлаб юбориш натижасида олинади.
Координата ўқлари элементар панжара кирпаларига (а,в,с) параллел олинади, ўқ бирликлари эса панжара даврийлигига мосланади.
Қовус ичидаги олинган индекслар (hKl) текислик символи деб юритилади.