Применение рентгеноструктурного анализа к изучению материалов

= T_k /  T_i ,
где T_i = I_ij / Q_ij - отношение интегральной интенсивности j -линии для i -фазы (I_ij) к теоретической интенсивности данной j -линии чистой i -фазы (Q_ij).
Для случая кристаллизации из аморфного состояния, когда образец наряду с образующейся кристаллической фазой содержит еще часть аморфного вещества, возможно определение степени кристаллизации порошка.
Следует отметить, что в настоящее время для обсчета дифрактограмм широко используются компьютерные программы, основанные на аппроксимации экспериментально полученного дифракционного профиля. Одной из последних программ является «РоwderCell 2.3», которая позволяет рассчитывать как количественное соотношение фаз (в случае многофазности образца), так и их структурные параметры (размеры кристаллитов, микроискажения, параметры решетки).