8- laboratoriya ishi Mavzu: Sirtlar g’adir-budurligini namunalar yordamida baholash

Yuzalar g‘adir-budurliklarini chizmalarda belgilash. Standartga binoan chizmalarda detallaming shu chizma bo'yicha bajariladigan, ulami hosil qilish usullaridan

qat’iy nazar konstruksiya bilan g'adir-budurlik shartlanmagan yuzalardan tashqari, barcha yuzalarning g'adir-budurligi belgilanadi. Yuza g‘adir-budurligi belgisining tuzilishi 5.32 a-rasmda ko‘rsatilgan. Konstruktor ishlov turining belgilanmagan yuza g'adirbudurligining belgisida 5.32 b-rasmda ko'rsatilgan belgi qo‘llanadi; bu belgi afzaldir.
Material qatlamini olib tashlash, masalan, charxlash, frezerlash, jilvirlash, jilolash, tezob bilan ishlov berish natijasida hosil bo'lgan yuzalarning g‘adir-budurligining belgisi 5.32 d-rasmda ko'rsatilgan. Material qatlami olib tashlanmaydigan usullar, masalan, quyish, bolg'alash, hajmiy shtamplash, prokat, cho'zish va boshqalar bilan hosil qilingan yuzalar g'adir- budurligining belgisida 5.32 e-rasmda ko'rsatilgan belgi qo'llanadi, shu chizma bo'yicha ishlov berilmaydigan yuzalar uchun ham shu belgi qo'llanadi. Bu belgi bilan belgilangan yuzaning holati materialning sortamenti uchun tegishli standart yoki texnikaviy shartlarda joriy qilingan talablarga javob berishi kerak.
Yuzalar g‘adir-budurliglni o'lchash. Yuzalar g'adir-budurligining sifatiy nazorati g'adir-budurlik namunalari yoki namunali detallar bilan qiyoslash, paypaslash yo'li bilan amalga oshiriladi. Standartga binoan mexanikaviy ishlov berilgan galvanoplastika usuli bilan pozitiv aksini olib yoki plastmassa aksiga qoplama qilib tayyorlangan namunalar joriy qilingan. Alohida namunalar yoki ularning to'plamlari to'g'ri chiziqli, yoysimon yoxud kesishib joylashgan yoysimon notekisliklarga ega. Har bir namunada R_a parametrining qiymati (mkm hisobida) va ishlov turi tamg'alangan. Ko‘z bilan g'adir-budurligi Ra=0,6—0,8 mm va ortiqroq bo'lgan yuzalami baholash mumkin. Aniqlikni oshirish uchun shchuplar va qiyoslash mikroskoplari, masalan, MC-48 qo'llanadi.
G'adir-budurlik parametrlarining miqdoriy nazorati kontaktsiz (MИC-11, ПCC-2 turdagi nur kesimli asboblari, mikrointerferometrlar, MMИ-10 imeision-aks mikrointerfcrometr, MИИ-4, MИИ-9, MИИ-11, MИИ-12 turdagi, OPИM-1 va boshqa turdagi rastr o'lchash mikroskoplari yordamida) va shchupli asboblar (profilometrlar va profilograflar) yordamida amalga oshiriladi. Usul va asboblarni tanlashda chizmada ko'rsatilgan parametmi nazorat qilishning imkoniyati, o'lchash chegaralari, nazorat qilinuvchi parametming joiz og'ishlari, asbob va o'lchashning xatoliklari, asbob ishining unumdorligi, detalning o‘lchamlari va materiali, boshqalar ko'zda tutilishi kerak. Yuqori aniqlikka ega bo'lgan profilograf va profilometrlar eng mas’uliyatli o'lchashlar uchun qo'llanadi.
Asbobning ignasi detal yuzasida iz (tirnalgan joy) qoldiradi, shuning uchun yumshoq materiallardan tayyorlangan detallar uchun kontaktsiz o'lchash asboblari qo'llanadi. ПCC-2, MИC-11 kontaktsiz priborlaming ish prinsipi yuzaga qiya yo'naltirilgan nur tarami yordamida ko'rilayotgan yuzaning nur kesimi proyeksiyasining parametrlarini o‘lchashga asoslangan(5.36rasm); nur tarami tor tirqishli diafragma (1) va kondensor (2) dan o‘tib, yuza (3) ning yorqin chiziqchasini ob’ektiv (4) orqali okulyar (5) ning fokal tekisligiga proyeksiyalaydi (5.36 brasm). Mikronotekisliklar okulyar mikrometri yordamida o'lchanadi (5.36 d-rasm).
Interferometrlarning ishlashi namunali va ko‘rilayotgan yuzalardan qaytgan nurlarni interferensiyasidan foydalanishga asoslangan. Hosil bo'lgan interferension chiziqlaming shakli ko'rilayotgan yuza notekisliklarining balandligi (1 mkm. gacha) va turiga bog'liq. Rastr mikroskoplarining ishlashi ikki davriy strukturalar (ishlovning izlari va difraksion panjara) ele- mentlarining tasviri bir-birini ustiga tushganda muhayyar (muar) chiziqlar hosil bo'lishiga asoslangan. Notekisliklar mavjudligida muhayyar chiziqlar qiyshayadi. Mikronotekisliklar balandligi muhayyar chiziqlaming qiyshayish darajasiga qarab, baholanadi. Kontakt ish usuliga ega bo‘lgan shchupli asboblarda notekisliklar balandligini o'lchash uchun nazorat qilinayotgan yuza bo‘ylab harakatlanuvchi ignaning vertikal tebranishidan foydalaniladi. Tebranishlar induktiv, mexanotron, pezoelektrik va boshqa o‘zgartkichlar yordamida elektr kuchlanishiga aylantiriladi. Shuningdek, induktiv o‘zgartkich qo‘llangan 252 modelli profilograf-profilometr notekisliklar profilini kattalashtirilgan masshtabda profilogramma shaklida yozish yoki g'adirbudurlik parametrlarini son qiymatlarida asbobning shkalalaridan o‘qish imkonini beradi (5.37rasm). Asbob o‘zgartkich, o'lchash bloki (7), hisoblash bloki (8), yozish qurilmasi (9) bilan jihozlangan. Induktiv o‘zgartkich ikki g‘altak (6) U qo‘shaloqlangan serdechnik shaklida bajaril- gan. G'altak va differensial kirish transformator birlamchi chulg'amining ikkita yarmi ko‘prik sxemasi bo'yicha ulangan, u chastotasi 10 kHs generatorlar (4) va (10) yordamida ta’minlanadi.

Nazorat qilinayotgan yuza bo'yicha harakatlanganda, o'zgartkichning olmos ignasi (3) tayanch