«scientific progress» Scientific Journal issn: 2181-1601 ///// \\\\\ Volume: 1, issue: 6

 
1335 
 
тутадиган экспоненциал модель олинади. Кўрсатиш мумкинки, 

1 
қуйдагича 
аниқланади: 
1
,
1
k
SQ
r


(1.3) 
бу ерда S – код таркибидаги кўрсатмалар сони; Q – коднинг ҳар бир 
кўрсатмаларидаги объектли кўрсатмалар сони; r – компьютер кўрсатмани 
бажарилиши даражси; k – хатоликларга учраш коэффициенти дейилади ва 110
-7
дан 1010
-7 
гача ўзгаради; t вақт процессор вақтининг бажарилиши секундларида 
ўлчанади: 
N(t) = N(0)exp(

1
t) , 
(1.4) 
бу ерда N(0) – хатоликларнинг бошланғич сони; t вақт давомидаги умумий 
хатоликлар сони: 

(t)= N(0) 

 N(t)= N(0) (1

e
(

1t)
),
(1.5) 
Умумий ҳолда: 

(t)= 

0
(1

exp(

1
t)),
(1.6) 
бу ерда 
0
– аниқланиши мумкин бўлган умумий хатоликлар сони. Созлаш 
вақтида янги хатоликлар қилинмаслиги кўзда тутилади. 
Узилишлар интенсивлиги учун ифода қуйидаги кўринишга эга: 

(t)= 

0

1
exp(

1
t), 
(1.7) 
Экспоненциал модель қўлланишда осон, 

0
ва 

1
параметрлар тестлаш 
жараёни бошлангунча аниқланади. 
SGRM ёндашиш қуйидаги ҳолларда мақсадга мувофиқ: 
 тестлаш бошлангунча,бунда дастлабки тестлаш режасига эга бўлиш зарур. 
Экспоненциал ёки логарифмик модель қўлланганида талаб қилинадиган 
узилишлар интенсивлиги қиймати, MTTF ёки хатоликлар зичлигига эришиш 
вақтини баҳолаш мумкин. t вақт киши-соатларда ўлчанади ва лойиҳаларни 
бажарилиши 
тажрибаси 
асосида 
аниқланадиган 
мос 
коэффициентга 
кўпайтирилиши керак; 
 тестлаш вақтида, бунда SGRM асосида керакли ишончлилик даражасига 
эришиш учунзарур бўладиган тестлаш вақти баҳоланади.