Umumiy doc
Download 6.99 Mb. Pdf ko'rish
|
Texnologik jarayonlarni nazorat qilish va avtomatlashtirish
|
структура схемалари:
СЭ, СЭ1, СЭ2 – сезгир элементлар; ОЎЭ,ОЎЭ1, ОЎЭ2 – оралиқ ўзгарткичли элементлар; К,К 1 , К 2 – кучайтиргичлар; ЭК – электр коммутатор; ИФҚ – интерфейсли қурилма; Ў – ўлчов (ўлчовлар тўплами); БТШҚ – бошқарувчи таъсирларни шакллантириш қурилмаси; ОБ – операцион бўғин; АРЎ – аналог- рақамли ўзгарткич; ЧРЎ – частотавий – рақамли ўзгарткич; РАЎ – рақамли – аналогли – ўзгарткич; МПТ – микропроцессорли тизим; и – рақамли индикатор. PDF created with pdfFactory Pro trial version www.pdffactory.com 330 yordamida ta’sir funksiyalari orqali ta’sir ko‘rsatuvchi kattaliklarning ta’sirlarini hisobga olish o‘lchash qurilmasining xatosini kamaytiradi. Bunday sxemaga ko‘ra bosimni, haroratni, sathni, sarfni, hajmni va boshqalarni o‘lchash qurilmalari quriladi. Bunda asosiy va yordamchi parametrlar to‘g‘ri va muvozanatlovchi uslub bilan o‘lchanishi mumkin. 9.4-rasm, b da MPT kiritilgan o‘lchov qurilmasining struktura sxemasi ko‘rsatilgan bo‘lib, u o‘lchashlarni namunali signallar va birgalikdagi o‘lchashlar uslubi bilan amalga oshirishni ta’minlaydi. Mazkur qurilmaning o‘lchov qismi P parametrni, M o‘lchovni (o‘lchovlar to‘plamini), shuningdek, P parametr va o‘lchovlar to‘plamini birgalikda o‘lchaydi. MPT axborotga ishlov beradi va o‘lchash jarayonini boshqaradi. Sxema (9.4-rasm, v) bo‘yicha qurilgan o‘lchov qurilmasi tarkibiga operasion bo‘g‘in OB kiradi, unda MPT buyruqlariga ko‘ra boshqaruvchi ta’sirlarni shakllantirish qurilmasi (BTSHQ) yordamida elementlarni almashtirish uchun zarur o‘lchashlar amalga oshiriladi, bularning natijasida o‘lchanayotgan parametr P ning sezgir element SE ga ta’siri (ta’sirlari) shakllanadi. Sxemalar (9.4-rasm, b, v) massa, hajm, suyuq muhitlarning zichligi va boshqalarni yaratishda qo‘llaniladi. MPT dan foydalanishning eng samarali usuli ulardan analitik texnika vositalarida foydalanish hisoblanadi, bunda asosiy va bir qator yordamchi parametrlarni o‘lchash bilan bir qatorda analitik qurilma bo‘g‘inlarini (mantiqiy va o‘xshash) boshqarish va axborotga ishlov berish bilan bog‘liq katta hajmdagi hisoblashlarni bajarish talab qilinadi. 9.5-rasm, a da avtomatik sifat analizatorining umumlashtirilgan struktura (tuzilma) sxemasi ko‘rsatilgan. Bitta parametrni o‘lchashni amalga oshiruvchi analizatorlarda o‘lchov axborotining asosiy signali u yoki bu detektor D yordamda analitik qurilma AQ da shakllanadi. Analizatorning xatosini kamaytirish uchun va uning bir qator sezgir element yordamida me’yorida ishlashini ta’minlash uchun bir qator parametrlarning qiymatlari bo‘yicha statik tavsif tuziladi, analitik qurilmaning rejimli parametrlari stabillashadi va tahlil o‘tkazish uchun zarur ulashlar amalga PDF created with pdfFactory Pro trial version www.pdffactory.com 331 oshiriladi. Oxirgi ikki vazifa MPT tomonidan BTSHQ orqali amalga oshiriladi. Analitik blokka tahlil qilayotgan va yordamchi modda (YOM) lardan tashqari namunaviy modda (NM) ni uzatish imkoniyati kuzatiladi, bu esa analizatorning davriy ravishda o‘zini darajalashini ta’minlaydi. Tarkibni tahlil qilishning ko‘p parametrli uslubini amalga oshiruvchi analizatorlarda (9.5-rasm, b), tegishli detektorli bir nechta analitik qurilmalardan foydalaniladi. YOrdamchi va rejimli parametrlarning barcha zarur o‘lchashlarini analitik qurilmalar parametrlarini o‘lchash bloki PO‘B bajaradi, u EK bloki bilan kommutasiyalanadi (9.5-rasm, b da PO‘B orasidagi bog‘lanish ko‘rsatilmagan). 9.1-jadval . Download 6.99 Mb. Do'stlaringiz bilan baham: 
|