Vii контроль качества полимерных покрытий визуальный контроль качества покрытий и исправление их дефектов

ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОВЕРХНОСТНЫХ И НАДМОЛЕКУЛЯР­НЫХ СТРУКТУР ПОЛИМЕРНЫХ ПОКРЫТИЙ
Как известно, надмолекулярная структура полимера оказы­вает существенное’ влияние на свойства покрытий [28, 156];. По­нятие структуры покрытия должно включать в себя как надмолекулярную, так и поверхностную, так как поверхностная струк­тура также играет большую роль в изменении эксплуатацион­ных свойств покрытий. Так, влияние таких факторов внешней среды, как’ влага, коррозирующие вещества, УФ-лучи, механи­ческая деформация, трение с другими телами и т. д., в основном отражается на поверхностной структуре покрытия.
Изучение поверхностной структуры позволяет судить о ха­рактере поверхности полимерного покрытия: расположении и распределении наполнителей на поверхности покрытия, наличии пузырей и микротрещин, а также косвенно судить о сплошности получаемого покрытия.
Для изучения поверхностных структур покрытия применя­ются микроскопы ИБС-1, МИС-11, МБИ-6. Перед началом опыта поверхность полимерного покрытия необходимо полиро­вать, после чего образец устанавливается в микроскоп. Поверх­ностная структура покрытия наблюдается в отраженном свете в светлом поле на микроскопе типа МБИ-6 и при помощи фото­аппарата, установленного на микроскопе, производится снимок.
Определение надмолекулярных структур полимерных покры­тий в основном производится на микроскопе МИН-8 в проходя­щем поляризованном свете. При этом требуется, чтобы толщина испытуемой пленки не превышала 10—15 мкм. Для получения таких тонких пленок производится срез с покровной пленки на ультрамикротоме типа УМ-Д5 при помощи стеклянных ножей. Испытуемая пленка толщиной 10—15 мкм зажимается между .двумя предметными стеклами и устанавливается при их помощи в микроскоп для изучения. Затем производится снимок надмоле­кулярной структуры при помощи фотоаппарата, установленного в микроскопе МИН-8. Иногда для определения надмолекуляр­ных структур применяется микроскоп МИМ-8М.
Для более точного изучения надмолекулярных структур по­лимерных покрытий широко применяются электронные микро­скопы отечественного и зарубежного выпуска.