10-Mavzu: Rentgenografik tahlil usullari (xrd)
Download 48.54 Kb.
|
m10 (1)
- Bu sahifa navigatsiya:
- Rentgenografik tahlil usullari (XRD). XRD ning fizikaviy asoslari Kukun rentgen nurlari diffraktometri
- Asosiy adabiyotlar
- Qo‘shimcha adabiyotlar
- Axborot manbalari
|
10-Mavzu: Rentgenografik tahlil usullari (XRD). Rentgenografik tahlil usullari (XRD). XRD ning fizikaviy asoslari. Rentgen nurlari diffraksiyasi. Vulf-Bregg tenglamasi. Rentgenografiya natijalarini kompyuterda tahlil qilish dasturlari. Rentgenografik tahlil usullari (XRD). XRD ning fizikaviy asoslari Kukun rentgen nurlari diffraktometri - bu diffraktsiya yordamida materialning strukturaviy xususiyatlarini o'rganish usuli O'rganilayotgan materialning kukuni yoki polikristal namunasidagi rentgen nurlari (rentgen nurlari diffraktsiyasi). Bundan tashqari, chang usuli deb ataladi. Tadqiqot natijasi tarqalgan nurlanish intensivligining tarqalish burchagiga bog'liqligidir. Tegishli qurilma chang difraktometri deb ataladi . Usulning afzalligi shundaki, har bir modda uchun diffraktsiya sxemasi o'ziga xos bo'lib, hatto uning tuzilishi noma'lum bo'lsa ham, moddani aniqlash imkonini beradi. Rentgen nurlanishining monoxromatik nurlari o'rganilayotgan materialning kukunga aylantirilgan namunasiga yo'naltiriladi. Namuna atrofida silindrga o'ralgan fotografik plyonkada tasvir (Debyegram) halqalar shaklida olinadi. Debyegramdagi bir xil halqaning chiziqlari orasidagi masofa Bragg aks ettirish burchaklarini topishga imkon beradi. Keyin, Bragg formulasiga ko'ra Bo'ri munosabat olishingiz mumkin aks ettiruvchi tekisliklar orasidagi masofalarni aks ettirish tartibiga. Asosiy ilovalar Rentgen tahlili: Namunaning sifat tarkibini aniqlash Namuna komponentlarini yarim miqdoriy aniqlash Moddaning kristall tuzilishini aniqlash : Birlik hujayra parametrlarini aniqlash Birlik hujayradagi atomlarning joylashishini aniqlash ( to'liq profilli tahlil - Rietveld usuli ) Polikristal namunaning kristallit hajmini (kogerent tarqalish hududi) aniqlash Polikristal materiallarda teksturani o'rganish Moddaning fazaviy tarkibini o'rganish va faza diagrammalarini o'rganish , namunadagi kristallarning o'lchamlarini baholash, panjara konstantalarini aniq aniqlash, issiqlik kengayish koeffitsienti , minerallarni tahlil qilish. 5-Rasm. Kukunli deffraktometr ishlash jarayonida Asosiy adabiyotlar Ismatov A.A. Silikat va qiyin eriydigan nometall materiallar fizik-kimyoviy tahlilning zamonaviy usullari. O’quv qo’llanma. Toshkent: Fan va texnologiya, 2006. -272 b. Юсупходжаев А.А., Холикулов Д.Б. Таҳлилнинг физика-кимёвий усуллари фанидан маърузалар тўплами. - Т.: ТошДТУ, 2000 Рентгеновские и электронно-микроскопические методы анализа атомно-кристаллической структуры материалов: лаб. практикум /под ред. В.Ш. Шехтмана, Э.В. Суворова. — Черноголовка, 2000. — 138 с. Купцов А.Х., Жижин Г.Н. Фурье-КР и фурье-ИК-спектры полимеров. М.: Физматлит,- 2001. -316 с. Рефрактометрические методы в физико-химических измерениях /Под ред. проф. Л.А. Конопелько. — М.: Изд-во Триумф, 2020. - 208 с.: 38 ил., табл.- 47. DOI: 10.32986/978-5-907052-08-03-2020-208. Мовчан Н.И., Горбунова Т.С., Евгеньева И.И., Романова Р.Г. Физико-химические и физические методы анализа. -Казань: КНИТУ., 2013. Qo‘shimcha adabiyotlar Mirziyoev Sh.M. Buyuk kelajagimizni mard va olijanob xalqimiz bilan birga quramiz.-T.:O’zbekiston, 2017.-488 b. Mirziyoev Sh.M. Qonun ustuvorligi va inson manfaatlarini ta’minlash - yurt taraqqiyoti va xalq farovonligining garovi. -T.: O’zbekiston, 2017. - 48 b. Mirziyoev Sh.M. Erkin va farovon demokratik O’zbekiston davlatini birgalikda barpo etamiz. -T.: O’zbekiston, 2016. - 56 b. Anthony R.West. Solid State Chemistry and its Applications. Wiley and Sons, 2nd Edition, England. 2014. -584 p. ISBN-13:978-119942948. Dudley H.Williams, Ian Fleming. Spectroscopic methods in organic chemistry. Fifth ed. England. -329 p. ISBN 0-07-709147-7. 0387462708 Терек Т. Емиссионный спектралный анализ. В 2-х частях. Перевод с англ. Учебное пособие. М.: Мир, 1982. - 286 с. (1 част), 464 с. (2 част). Смирнова Г.И. Оптические методы анализа. Пламенная фотометрия, люминесцентный анализ. Методические указания. Учебное пособие. -Владимир, 1980. Миркин Л.И. Рентгеноструктурный анализ. Индицирование рентгенограмм. Справочное руководство. -М.: Наука, 1981.-496 с. Калабин Г.А. Количественная спектроскопия ЯМР природного органического сырья и продуктов его переработки. - М.: Химия, 2000. - 408 с. Попова Е. С., Моржухина С. В., Зуев Б. К., Моржухин А. М. Атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой: Практикум, Государственный университет «Дубна», ISBN 978-5-89847-588-8, 2019, -56 c. Ландсберг Г.С. Оптика, Изд.6, М., Физматлит, 2006. Главы XVI, XVII, XXX. Axborot manbalari https://ziyonet.uz/ https://www.bruker.com/en/landingpages/baxs/x-ray-structural-and-elemental-analysis.html https://bigenc.ru/c/infrakrasnaia-spektroskopiia-39ae5f https://researchpark.spbu.ru/xrd-metods-rus/64-xrd-rentgenostrukturnyj-analiz-rus https://www.ibmc.msk.ru/content/Education/w-o_pass/MMoB/11.pdf https://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_crystallography https://lex.uz/docs/-4539502 Download 48.54 Kb. Do'stlaringiz bilan baham: 
|