Design and realisation of integrated circuit tester

Key words: integrated circuit, integrated circuit tester, microcontroller, faults, test
RESUME
Dans ce monde present, avec la croissance dans la technologie, designer les circuits electroniques
devient plus complique, plusque ca inclu 1’usage des cicuits integre. La plus part des circuits
electroniques qui sont designe a la fin ne fonction pas parceque certain de ces circuits integres
vi
utilises ont des fautes. Nous sommes interesses en assurant que chaqu circuit integre qui doit etre monter sur un plat electronique function bien. Plusque c’est n’est pas facile de verifier la pluspart des circuits integres en utilisant une multimetre, il est necessaire de designe un circuit qui est capable de verifier des circuits integres. La verification a pour but la mesure des defauts et le niveau de qualite et chaque circuit integre doit etre completement controler a fin de verifier s’il fonctionera comme dёsignё. Done ce projet intitule ‘’INTEGRATED CIRCUIT TESTER’’ est designe pour permettre aux inventeurs des circuits electroniques, aux vendeurs des composants electroniques, memes des laboratoires et des ecoles par example ENSET Bambili de designer des cicuits fonctionable en prennant soin que les circuits utilises fonction de maniere propre. Ce projet a la capacite de tester certains circuits integre TTL de la serie 74xx et CMOS de la serie 40xx; quelque AOP (ДД741) ainsi que leurs equivalent; le NE555. Ce testeur fonction sans l’ordinateur et utilise des dispositifs programmable flexibles de PIC18F4520 microcontroleur. Le testeur du circuit integre fait la verification de maniere automatique et vous dit le type de circuit integre, peu importe que ca fonction de bonne maniere, et le niveau dont le circuit integre est mauvais en tant que pourcentage. L’Opam et NE555 peuvent etre teste avec ou sans l’usage de microcontroleur. Ce testeur du circuit integre a ete sucessivement construit sans erreurs, et nous pouvons produire plusieurs au tant que possible.