Nashriyot-matbaaijodiy uyi

9.3- §. TEXNOLOGIK O'LCHASH VOSITALARIDA 
MIKROPROTSESSORLARNING QO'LLANILISHI 
Asbobsozlik rivojining hozirgi bosqichi o'lchov vositalari tarkibida 
mikroprotsessorlar — mikroprotsessor tizimlari asosiga qurilgan hisoblash 
qurilmalaridan keng foydalanish bilan ifodalanadi. O'lchov qurilmalarida 
bunday tizimlarining qo'llanilishi natijasida ikki maqsadga erishiladi: o'lchov 
qurilmalarining vazifalari kengaytiriladi va ularning tavsiflari yaxshilanadi. 
Mikroprotsessor tizimlarning (MPT) elektr o'lchov vositalarida foy-
dalanilishi ularni joylashtirishga va ishlatish algoritmlariga yangicha yon-
dashishga, axborot berish imkoniyatlarini oshirishga, aniqligini, ishonch-
liligini va tez ishlashini yanada oshirishga imkon beradi. 
Texnologik o'lchashlar sohasida samarali yechimlarni izlash va MPT 
ichiga qurilgan o'lchov asboblarini ishlab chiqish davom ettirilmoqda. 
Umumiy holda o'lchov qurilmalari tarkibiga MPT ning kiritilishi 
quyidagi kabi asosiy vazifalarni hal qilishga imkon beradi: 
• ifodalar bo'yicha hisoblash (shu jumladan linearizatsiya, mas-
shtablash, o'lchamlar natijalariga ishlov berish va hokazolar); 
• berilgan algoritm bo'yicha hisoblash; 
• statistik ishlov berish; 
• parametrni tahlil qilish (maksimumga, minimumga va hokazo); 
• statistik tavsifni tuzatish (jumladan, almashtirish koeffitsiyentini 
tiklash va signalning nol darajasini tuzatish); 
• o'lchov qurilmasi ulangan tizimi bilan bog'lanish; 
• o'z-o'zini diagnostika qilish; 
• o'lchashlarni boshqaruv; 
• o'lchov qurilmasining rejim (sharoit) parametrlarini stabillash yoki 
dasturiy sozlash. 
Biroq MPTni o'lchov qurilmalari tarkibiga ularga bevosita yangi ijobiy 
sifatlarni berish bilan bir qatorda, kiritish bu qurilmalarning ancha 
murakkablashuviga olib keladi. Murakkabligi bo'yicha MPT kiritilgan o'lchov 
qurilmalari mikro EHM qatnashgan o'lchov tizimlariga yaqindir. Misol 
255 

---

tariqasida hozirgi vaqtda texnologik parametrlar o'lchov qurilmalarini 
yaratish uchun foydalaniladigan struktura sxemalarini qarab chiqamiz (9.4-
rasm). 
Yordamchi o'lchashlar uslubini amalga oshiruvchi sxema (9.4 rasm, a) 
eng ko'p qo'llaniladi. Bunday sxema bo'yicha yasalgan o'lchov qurilmasi 
ishida asosiy parametr va yordamchi parametrlar PI, P2 — ta'sir ko'rsa-
tuvchi kattaliklar (atrof harorati, atmosfera bosimi va boshqalar) haqidagi 
axborotdan foydalaniladi. MPT yordamida ta'sir funksiyalari orqali ta'sir 
ko'rsatuvchi kattaliklarning ta'sirlarini hisobga olish, o'lchash qurilmasining 
xatosini kamaytiradi. Bunday sxemaga ko'ra bosimni, haroratni, sathni, 
sarfni, hajmni va boshqalarni o'lchash qurilmalari quriladi. Bunda asosiy va 
yordamchi parametrlar to'g'ri va muvozanatlovchi uslub bilan o'lchanishi 
mumkin. 
9.4-rasm, b da MPT kiritilgan o'lchov qurilmasining struktura sxemasi 
ko'rsatilgan bo'lib, u o'lchashlarni namunali signallar va birgalikdagi 
o'lchashlar uslubi bilan amalga oshirishni ta'minlaydi. Mazkur qurilmaning 
o'lchov qismi P parametrni, M o'lchovni (o'lchovlar to'plamini), 
shuningdek, P parametr va o'lchovlar to'plamini birgalikda o'lchaydi. MPT 
axborotga ishlov beradi va o'lchash jarayonini boshqaradi. 
Sxema (9.4-rasm, c) bo'yicha qurilgan o'lchov qurilmasi tarkibiga 
operatsion bo'g'in OB kiradi, unda MPT buyruqlariga ko'ra boshqaruvchi 
ta'sirlarni shakllantirish qurilmasi (BTSHQ) yordamida elementlarni 
almashtirish uchun zarur o'lchashlar amalga oshiriladi, bularning natijasida 
o'lchanayotgan parametr P ning sezgir element SE ga ta'siri (ta'sirlari) 
shakllanadi. 
Sxemalar (9.4-rasm, b, с) massa, hajm, suyuq muhitlarning zichligi 
va boshqalarni yaratishda qo'llaniladi. 
MPT dan foydalanishning eng samarali usuli ulardan analitik texnika 
vositalarida foydalanish hisoblanadi, bunda asosiy va bir qator yordamchi 
parametrlarni o'lchash bilan bir qatorda, analitik qurilma bo'g'inlarini 
(mantiqiy va o'xshash) boshqarish va axborotga ishlov berish bilan bog'liq 
katta hajmdagi hisoblashlarni bajarish talab qilinadi. 
9.5-rasm, a da avtomatik sifat analizatorining umumlashtirilgan struktura 
(tuzilma) sxemasi ko'rsatilgan. Bitta parametrni o'lchashni amalga oshiruvchi 
analizatorlarda o'lchov axborotining asosiy signali u yoki bu detektor D 
yordamda analitik qurilma AQ da shakllanadi. Analizatorning xatosini 
kamaytirish uchun va uning bir qator sezgir element yordamida me'yorida 
ishlashini ta'minlash uchun bir qator parametrlarning qiymatlari bo'yicha 
statik tavsif tuziladi, analitik qurilmaning rejimli parametrlari stabillashadi 
va tahlil o'tkazish uchun zarur ulashlar amalga oshiriladi. Oxirgi ikki vazifa 
MPT tomonidan BTSHQ orqali amalga oshiriladi. Analitik blokka tahlil