Nashriyot-matbaaijodiy uyi

256 

---

SE, SE,, SE
2
 — sezgir elementlar; OO'E, OO'E,, OO
l
E
2
 — oraliq o'zgartgichli elementlar; 
К, K,, Kj — kuchaytirgichlar; EK — elektr kommutator; IFQ — interfeysli qurilma; 
O' — o'lchov; BTSHQ — boshqaruvchi ta'sirlarni shakllantirish qurilmasi; OB — operatsion 
bo'g'in; ARO' — analog-raqamli o'zgartkich; CHRO' — chastotaviy-raqamli o'zgartgich; 
RAO' — raqamli-analog o'zgartkich; MPT — mikroprotsessorli tizim; I — raqamli indikator. 
qilayotgan va yordamchi modda (YOM) lardan tashqari, namunaviy modda 
(NM) ni uzatish imkoniyati kuzatiladi, bu esa analizatorning davriy 
ravishda o'zini darajalashini ta'minlaydi. 
17 — N. R. Yusupbekov va boshq. 257 

---

---

Tarkibni tahlil qilishning ko'p parametrli uslubini amalga oshiruvchi 
analizatorlarda (9.5-rasm, b), tegishli detektorli bir necha analitik quril-
malardan foydalaniladi. 
Yordamchi va rejimli parametrlarning barcha zarur o'lchashlarini analitik 
qurilmalar parametrlarini o'lchash bloki PO'B bajaradi, u EK bloki bilan 
kommutatsiyalanadi (9.5-rasm, b da PO'B orasidagi bog'lanish ko'r-
satilmagan). 
259 

---

Bu qurilmalar ishini boshqarish uchun zarur signallar va ularning 
rejim parametrlarini stabillashni MPT ishlab chiqaradi va analitik qurilmalarga 
BTSHQ orqali keladi. 9.1- jadvalda texnologik parametrlar keltirilgan bo'lib, 
ular uchun mikroprotsessor tizimlari kiritilgan o'lchov asboblari yaratilgan. 
9.4-§ MIKROPROTSESSOR VA RAQAMLI HISOBLASH TEXNIKASI