O„zbekiston respublikasi oliy va o„rta maxsus ta`lim
Download 4.15 Mb. Pdf ko'rish
|
Физик ва коллид химия. Дарслик
|
Turbidimetriya usuli. Bu usul dispers sistemadan o„tgan yorug„likning
intensivligini o„lchashga asoslangan. Sistemadan yoyilgan va unga yutilgan yorug„likni birga chiqarib tashlasak, o„tgan yorug„likni molekulyar eritmalarga tegishli bo„lgan Buger-Lamber-Ber qonuni asosida aniqlash mumkin. Agar optik zichlikni sistemaga tushayotgan va undan o„tgan yorug„lik intensivliklari nisbatini logarifmi sifatida olinsa, quyidagi ifoda kelib chiqadi: bu yerda – sistemaga tushaytgan yorug„lik intensivligi, – sistemadan o„tgan yorug„lik intensivligi, – zarrchalarning diametri, – Reley tenglamasidagi o„zgarmas kattaliklarni o„z ichiga olgan konstanta, – zolning tabiatiga bog„liq bo„lgan konstanta. (15.4) tenglama yordamida zarrachalarning o„lchamlarini aniqlash mumkin bo„ladi. Biroq zarrachalarning diametri juda kichik, ya‟ni bo„lganda ni hisobga olmasa ham bo„ladi. U holda (15.4) tenglamani quyidagi ko„rinishga keladi: va o„zgarmas bo„lsa (15.5) tenglamani quyidagicha yozish mumkin: (15.6) tenglamadan zarrachalarning o„lchami bir xil bo„lgan ikkita zolning optik zichliklari nisbati ulardagi zarrachalarning miqdorlari (sonlari) nisbatiga teng. Yuqoridagi tenglamalar zollardagi zarrachalarning o„lchamlari aniqlash, ularni o„zaro solishtirish uchun qo„llanilishi mumkin. Nefelometriya usuli. Kolloid eritmalarning yoruglikning yoyilishi turli sistemalar uchun nefelometr yordamida o„lchanadi. Faradey–Tindal effekti zolning konsentratsiyasi haqida fikr yuritishga imkon beradi. Kolloid eritmani konsentratsiyasini aniqlovchi asbobga nefelometr deyiladi. Nefelometrning ishlashi sinaladigan zolda yoyilgan yorug„lik intensivligining standart zolda yoyilgan intensivligi bilan solishtirib ko„rishga asoslangan. Nefelometrni ishlashi Reley tenglamasiga asoslangan. Agar zarrachalarni o„lchamlari va konsentratsiyasini aniqlash kerak bo„lsa, bitta burchak ostida tushuvchi nurning yoyilgan intensivligini o„lchash etarli bo„ladi. SHuning uchun Reley tenglamasi quyidagi ko„rinishga keladi: bu yerda – Reley tenglamasidagi konsentratsiya va hajmdan tashqari barcha 229 o„zgarmas kattaliklarni birlashtiruvchi konstanta. (15.7) ifodadan ma‟lum bo„lishicha zarrachalarining shakli va o„lchamlari bir xil bo„lgan ikkita zol tomonidan sochilgan nur intensivligini nisbati dispers faza zarrachalarining konsentratsiyalari nisbatiga teng ekan: Demak, (15.8) va (15.9) tenglamalar yordamida tekshirilayotgan zol bilan standart zolni solishtirib, zarrachlarning o„lchamlari va konsentratsiyasini aniqlash mumkin. Optik mikroskop. Oddiy optik mikroskop ob‟ektni o„nlab marta kattalashtirish mikonini bersa, raqamli USB mikroskop minglab marta kattalashtirish imkonini beradi. Bunday mikroskoplar yordamida o„lchamlari 0,5 mkm dan 0,5 mm gacha bo„lgan zarrachalarni kattalashtrib o„rganish mumkin bo„ladi. Zamonaviy raqamli mikroskoplar kompyuterga ulangan bo„lib, zarrachalarni o„lchamlari, shakli, konsentratsiyasini aniqlashda keng imkoniyatlarga ega. Mikroskopik taxlillarda kukunlar, suspenziyalar quyidagi talablarni qanoatlantirishi kerak: 1) konturlari bir-birin qoplaydigan darajada ko„p zarrachalar tutmasligi kerak; 2) shu bilan birga zarrachalarning miqdori turli shakl va o„lchamdagilarni qamrab olish uchun etarli bo„lishi kerak; 3) zarrachalar bitta optik tekislikda joylashishi kerak; 4) sistema tayyorlanish vaqtida sedimentatsiyaga uchrash holatiga yo„l qo„ymaslik kerak. Kukun va suspenziyalarning disperslik darajasini aniqlashda solishtirish usulidan keng foydalaniladi. Mikroskopning predmet shishasiga tekshirilayotgan ob‟ekt bilan birga zarrachalarining o„lchamlari ma‟lum bo„lgan namuna ham qo„yiladi. Disperslik tekshirilayotgan va standart namunalardagi zarrachlar o„lchamlarining nisbati sifatida o„rganiladi. Disperslik darajasini zarrachalarning soni bo„yicha ham aniqlash mumkin. Zarrachalarning umumiy massasi va zichligi ma‟lum bo„lsa namunadagi ularning soni hisoblanadi. Zarrachalarni shakli sferik deb hisoblagan holda quyidagi formula bo„yicha o„lchamlari aniqlanadi: √ 230 Ultramikroskopiya. Kolloid sistemalarni tekshirish uchun ultramikroskopining kashf etilishi katta ahamiyatga ega bo„ldi. Oddiy mikroskopda jism o„tayotgan yorug„likda ko„rinadi, demak, unda kolloid zarrachalar tomonidan yoyilgan yorug„likni ko„ramiz. Ultramikroskopda esa ob‟ekt yon tomondan tushirilayotgan kuchli yorug„lik tutami bilan yoritiladi. Muhit va zarrachalarning sindirish ko„rsatkichlari farq qilishligi tufayli yorug„lik sochiladi va go„yoki Tindal konusini hosil qiladi. Tirqishli ultramikroskop kolloid zarrachalarning o„lchamini aniqlashga imkoniyat yaratadi. Ultramikroskopning qo„llanilishi diametri 2-3 nm gacha bo„lgan zarrachalarni o„lchamini ariqlash, sonini sanash va harakatlanishini kuzatish imkonini beradi. Elektron mikroskopiya. Hozirgi vaqtda kolloid zarrachalarning o„lchami va shaklini aniqlash uchun elektron mikroskoplar keng ishlatiladi, bunda yorug„lik nuri o„rniga tezkor elektronlar to„plamidan foydalaniladi. Kolloid zarrachalar shaklini elektron mikroskop yordamida aniq ko„rish mumkin. Bu asbobdan foydalanib kolloid zarrachalarni va hatto polimer molekulalarini, 0.5–1 nm kattalikdagi zarrachalarni ko„rish mumkin. Kolloid zarrachalarning ichki sferasi va uning turli jarayonlar vaqtidagi o„zgarishi rentgenografik va elektronografiya usullarida aniqlanadi. Rentgenografiya usulida kolloid zarrachani ichki tuzilishi haqida ma‟lumot olish mumkin. Bu usulda turli kolloidlarning ko„pchiligi kristall tuzilishga ega ekanligi aniqlandi. Kolloid sistemalarda dispers faza sirtini tekshirishda elektronografiya usulidan foydalaniladi. Bu usulda sirt qatlamda tuvchi atomlararo masofalarni bevosita aniqlash mumkin va ayniqsa adsorbsion qavatlarni puxta o„rganish mumkin. Zamonaviy skanirlovchi elektron mikroskoplar (SEM) o„gnaliyotgan ob‟ektni o„nlab million marta kattalashtirish imkonini beradi. Adabiyotlarda shunday mikroskoplar yordamida hattoki atom va molekulalarning tasivrini ko„ringanligi haqida ma‟lumotlar berilgan. SEM tadqiqot usuli juda ko„p avzalliklarga ega. Uning yordamida har qanday mikroobetklarni shakli, o„lchamlari, harakatlarini o„rganish mumkin. Hozirgi vaqtda bu usul miqdoriy element analizida ham qo„llanilmoqda, modda tarkibidagi elementlarning foiz miqdorlari aniqlanmoqda. 231 Nazorat savollari . 1. Dispers sistemalar qanday optik xossalarni namoyon etadi? 2. Dispers sistemalarda yorug„lik nurlari o„tkazilganda qanday jarayonlar sodir bo„lishligi mumkin? 3. Tindal-Faradey effekti nimadan iborat? 4. Yoruqlikning yoyilish hodisasi nimadan iborat va u qanday nomlanadi? 5. Kolloid sistemalarda yorug„likning yoyilishi qanday qonunga bo„ysunadi? 6. Nima uchun kolloid eritmalar yorug„likning asosiy qismini atrofga sochadi? 7. Dispers sistemalarda yorug„likning yutilishi nima bilan izohlanadi? 8. Eritmalarda yorug„likning yutilishi qanday qonunga bo„ysunadi? 9. Optik zichlik nima va u qanday omillarga bog„liq? 10. Optik yutilish spektrlari nima va spektrlar qanday qurilma yordamida hosil qilinadi? 11. Moddaning xromofor guruhlari deganda nimani tushinasiz va ularni optik spektroskopiyada ahamiyati qanday? 12. Kolloid eritmaning rangi bilan o„lchamlari orasida qanday bog„liqlik mavjud? 13. Nima uchun svetoforning harakatni ta‟qiqlovchi chirog„i sifatida qizil rang tanlangan? 14. Dispers sistemalarni tadqiq etishning qanday optik usullarini bilasiz? 15. Turbidimetriya usulining mohiyati nimada? 16. Zarrachalarning konsentrasiyasi, o„lchami va shaklarini aniqlashning qanday optik usullari yorug„lik yoyilish hodisasiga asoslangan? 17. Nifelometriya usulida zarrachalarning o„lchamlari qanday qilib aniqlanadi? 18. Optik va raqamli mikroskop haqida nimani bilasiz, ular nima uchun qo„llaniladi? 19. Ultramikroskopni oddiy mikroskopdan farqi va avzalliklari nimada? 20. Elektron mikroskopning ishlashi va imkoniyatlari haqida nimani bilasiz? 232 VII DISPERS SISTEMALARDA SIRT HODISALAR, ELEKTROKINETIK HODISALAR, BARQARORLIK OMILLARI Download 4.15 Mb. Do'stlaringiz bilan baham: 
|