Oʻzbekiston respublikasi oliy va oʻrta maxsus taʼlim vazirligi toshkent kimyo-texnologiya instituti

Petrografik usuldan turli materiallarni: minerallar, sement klinker, sement tosh, betonlar, shishalar, oʻtga chidamli materiallar, shlaklar, keramika va boshqalarni tadqiq qilish uchun foydalaniladi.
Yorugʻlik mikroskopiyasi usuli har qaysi materialga xos boʻlgan, uning ichki tuzilishi bilan belgilanadigan optik xossalarni aniqlashga qaratilgan. Minerallarning asosiy optik xossalari – yorugʻlikning sinish koʻrsatkichlari, ikki marta sinish kuchi, optik belgi, rang va boshqalardir.
Ushbu usulning bir nechta modifikatsiyasi: kukun holidagi namunalarni maxsus immersion apparatlarda oʻrganish uchun moʻljallangan qutblanish mikroskopiyasi; tiniq shliftlarni oʻrganish uchun oʻtayotgan yorugʻlikdagi mikroskopiya modifikatsiyasi mavjud. Bu tadqiqotlarni oʻtkazish uchun qutblanish mikroskoplari qoʻllaniladi.
Elektron mikroskopiya yupqa kristall massani tadqiq qilish uchun qoʻllaniladi. Hozirgi elektron mikroskoplar 300 ming baravargacha foydali kattalashtirish imkoniyatiga ega. Elektron mikroskop yordamida ayrim submikroskopik kristallarning shaklini va katta-kichikligini; kristallarning oʻsish va buzilish jarayonini; diffuziya jarayonlarini; termik ishlov berganda va sovitilganda fazaviy oʻzgarishlarni; shaklini oʻzgartirish va buzilish mexanizmlarini oʻrganish mumkin.
Differensial-termik tahlildan qurilish materiallarining mineral-faza tarkibini aniqlash uchun foydalaniladi. Masalan, materialda yuz berayotgan fazaviy oʻzgarishlar haqida bu oʻzgarishlar vaqtidagi issiqlik effektlariga qarab fikr yuritish mumkin.
Defektoskopiyadan moddaga kirib qolishi mumkin boʻlgan turli begona narsalarni (metalldagi gʻovaklar, boʻshliqlar va yoriqlarni, unga kimyoviy tarkibi boshqa boʻlgan moddalar kirib qolganligini va hokazolarni) aniqlash uchun foydalaniladi. Magnit va ultratovush defektoskopiyalari mavjud. Chunonchi, magnit defektoskopiyasida buyumning magnitlanishiga qarab metallning tuzilishi (yaxlit yoki boʻshligi) haqida fikr yuritish mumkin. Ultratovush defektoskopiyasida “qattiq jism – havo” boʻlinishi chegarasida deyarli batamom aks etadigan toʻlqinlardan foydalaniladi.
Hozirgi laboratoriyalar koʻplab kompyuterlashgan qurilmalar bilan jihozlangan boʻlib, bu qurilmalar deyarli hamma materiallarni koʻp faktorli kompleks tahlildan oʻtkazish imkonini beradi.