Bazalt minerali asosida termik destruksiyaga chidamli polimer kompozitsion materiallar olish, ularning fizik-mexanik xossalari va tuzilishini fizik-kimyoviy usullar yordamida tadqiq qilish” 70530101 – “Kimyo


-rasm. Mineral to‘ldiruvchi va polietilen PY-342 asosida olingan polimer materiallarning IQ spektri: PY-342/PEMA/TEAS/BT


Download 0.78 Mb.
bet22/32
Sana22.06.2023
Hajmi0.78 Mb.
#1649220
1   ...   18   19   20   21   22   23   24   25   ...   32
Bog'liq
С,М,РАСУЛОВА ДИССЕРТАЦИЯ2222 2 2 1 (3)

3.1-rasm. Mineral to‘ldiruvchi va polietilen PY-342 asosida olingan polimer materiallarning IQ spektri: PY-342/PEMA/TEAS/BT

Bundan tashqari ba’zi mualliflar nanozarrachalar va polimerlar o‘rtasidagi adsorbsion ta’sir natijasida hosil bo‘lgan nanokompozitlarning qattiqligi va mustahkamligining dastlabki polimerlarga nisbatan oshganligini e’tirof etishgan. Mineral to‘ldiruvchilar polimerlarning kristallanishida ishtirok etib, bu ularning mustahkamlik xossalarining yaxshilanishida kuzatiladi [77;14-b].


3.2-§. Bazalt asosida olingan polimer materiallarning termik xossalarini o‘rganish.
Polimer materiallarning kompleks fizik-mexanik xossalari ularni qayta ishlash jarayonida polimerlar tarkibining kimyoviy o‘zgarishlari asosida aniqlanadi. Bu jarayonlar yuqori haroratda olib boriladi. Ushbu ishda termik va teplofizik xususiyatlar: erish haroratining o‘zgarishi, haroratga chidamlilik, chiziqli termik kengayish koeffitsiyenti va boshqalar o‘rganildi.
3.5-jadval
Bazalt (BT) va poliamid PA-6 asosida olingan PA-6/PEMA/TEAS/BT tarkibli kompozitning difraktogramma natijalari

T/R



2theta- skanirlash burchagi

d-Tekisliklararo masofa

I-Pik intesivligi

FWHM- reflekslarning integral kengligi

1

6.0200

16.000

223

0.3461

2

9.0010

10.020

233

0.4642

3

12.0020

7.0560

776

0.3481

4

25.0200

4.6020

531

0.2863

5

27.0300

4.4600

270

0.3871

Zarrachalarning o‘lchami va shaklini eksperimental tadqiq qilishda rentgen fazofiy analiz usullari (Debay-Sherrer usuli) yordamida aniq natijalarga erishish mumkin
Kogerent tarqalish mintaqalarining o‘lchamlari (KTM) (nanokristallar o‘lchami) Debay-Sherrer formulasi orqali aniqlanadi:
Dp = K λ / (B cos θ)
Dp – Kristallarning o‘rtacha o‘lchami (nm)
K –Sherrer konstantasi. K 0,68 dan 2,08 gacha o‘zgaradi. K = 0,94 kubik simmetriyali sferik kristallar uchun
λ – Rentgen nurlari to‘lqin uzunligi.Cu Kα = 1.54178 Å
B - FWHM (Full Width at Half Maximum) difraktometrdagi reflekslarning integral uzunligi
cosθ – rentgen nurlari difraksiyasining kosinus burchagi [77; 14-b.].

Download 0.78 Mb.

Do'stlaringiz bilan baham:
1   ...   18   19   20   21   22   23   24   25   ...   32




Ma'lumotlar bazasi mualliflik huquqi bilan himoyalangan ©fayllar.org 2024
ma'muriyatiga murojaat qiling