Oxygen in Silicon Single Crystals


Download 1.39 Mb.
bet28/89
Sana10.04.2023
Hajmi1.39 Mb.
#1349265
1   ...   24   25   26   27   28   29   30   31   ...   89
Bog'liq
Oxygen in Silicon Single Crystals ццц

A

B

C

D

E

Тотж, ч: 2

1

8.3

4

0.6

-

5

1

10

14

4.4

0.9

10

1

11

15

7.1

1.4


82




Генерация ТД-I происходит по сложной кинетике. Рассматривались переходы 1s-1p; 1s-2p±; 1s-3p+ для (ТД-I)0 и (ТД-!)+ состояний. Энер­гии переходов для (ТД-I)0 лежат в пределах 53.0-69.3 мэВ [110] и 52.9­69.1 мэВ [83]. Для состояния (ТД-!)+ - в интервале 127.9-156.3 мэВ [110] и 118-156.3 мэВ [83].
Предполагалось [83] на основании результатов по ИК- спектроскопии, что ТД-I типа А, В
, С и D включают 2, 3, 4, 5 атомов межузельного кислорода [О/] соответственно. Двойной донор приписы­вался (Si-O), молекуле, которая может образовывать донорные комплексы сначала с межузельным кислородом, а затем с гораздо большими нейтральными Si-О комплексами.
Суезава и Сумино [134], изучая процессы формирования ТД-I в зависимости от содержания межузельного кислорода [О,] в исходных кристаллах Si, а также от продолжительности отжига, обнаружили (также по ИК-спектроскопии) в составе ТД-I 6 типов электрически ак­тивных центров. Основные характеристики разных типов ТД-I [134] приведены ниже:


Тип ТД-I 1 2 3 4 5 6
Предполагаемое число атомов кис- 3 4 5 6 7 8 лорода, входящих в состав центров, шт
Энергия ионизации электрически ней- 69.8 68.9 67.3 65.0 62.6 60.4 трального состояния, мэВ
Причем, концентрация каждого из шести видов ТД-I зависит как от содержания [О,] в исходных кристаллах Si, так и от продолжительности отжига (что отмечалось также и в [83, 126]). Какой тип ТД-I будет пре­валировать при отжиге, определяется критическим радиусом Si-On комплекса. Последний же, в свою очередь, зависит от степени пере­сыщения твердого раствора кислорода в Si. А это значит, что выбором температуры отжига либо содержанием [О,] можно (изменяя степень пересыщения) управлять относительной концентрацией термодонорных образований разных типов, что и подтверждено экспериментально в [126].
Обработка ИК-спектров типа представленных на рис. 31 позволяет количественно описать кинетику образования каждого из видов ТД-I и затем представить интегральную (усредненную) кинетику для всей со­вокупности ТД-I (рис. 32) [134]. Существование многих разновидностей двойных ТД-I (в [134] их обнаружили 6 типов, в [110] и [83] - по 9) и сложной кинетики образования каждого из них указывает на то, что полное и достоверное описание кинетики образования ТД-I - сложная задача, как экспериментальная, так и теоретическая. Кроме этого, при описании кинетики образования ТД-I необходим учет влияния на этот процесс ряда реальных факторов, таких как термоистория кристаллов, неоднородное распределение кислорода, а также присутствие в них малых электрически неактивных кислородных кластеров.


83




Рис. 31. Спектры оптического поглощения в кри-
сталлах 1, 2 и 3
([О/] = 5.65-1017; 6.39-1017 и
7.85-1017 см-3 соответственно) после отжига при
471.3°С в течение 2.5 ч (d = 1.709; 1.792; 1.640
мм соответственно) [134]


Задача количественного описания
кинетики образования ТД-I с учетом от-
меченных выше факторов решалась в
[133]. В [133] отмечалось, что ввиду
большого разнообразия ТД-I, обнару-
женных в ИК-исследованиях [83, 110,
134, 135], стало ясно, что кинетическая
модель Кайзера и др. [75] не является
удовлетворительной. Так, чтобы объяс-
нить абсолютную величину генерируе-
мых ТД-I в рамках модели Кайзера и др.,
необходимо допустить, что коэффициент
диффузии кислорода на несколько по-
рядков больше, чем наблюдается на
эксперименте. Чтобы преодолеть пос-
леднее затруднение, модель должна включать наличие в Si подвижных
кислородных кластеров. В частности, была предложена молекула О2,
обладающая значительной подвижностью [76] при температурах отжига
в интервале 350-550°С.
Предлагаемая же в [133] кинетическая модель ТД-I основывается на следующих предположениях: подвижными частицами являются толь­ко атомы [О/]. Их диффузия описывается "эффективным коэффициен­том диффузии" Оэфф или эквивалентной эффективной частотой прыж­ков Мэфф; кластеры On, содержащие n
атомов кислорода, образуются последовательной реакцией атома кислорода с Оп-1 с определенной энергией связи Bn; О*п определен как кластер, содержащий п атомов кислорода и электрически активный атом кремния, предполагается, что для п > N все О*п электрически активны; это предположение является






Download 1.39 Mb.

Do'stlaringiz bilan baham:
1   ...   24   25   26   27   28   29   30   31   ...   89




Ma'lumotlar bazasi mualliflik huquqi bilan himoyalangan ©fayllar.org 2024
ma'muriyatiga murojaat qiling