Спектрал аппаратлар характеристикалари

Рентген нурлари дифракциясини қўллаш. Рентген нурларининг кристаллардан ҳосил бўладиган дифракциясининг иккита асосий татбиқи бор. Ундан рентген нурланишининг спектрал таркибини текширишда (рентген спектроскопияси) ва кристалларнинг тузилишини ўрганиш (рентгеноструктуравий таҳлил) да фойдаланилади.
1. Лауэ методи. Текширилаётган рентген нурланишининг маълум тузилишдаги кристаллардан ҳосил бўлаётган дифракцияси натижасида қандай йуналишларда максимумлар вужудга келишини аниқлаб, масалан, (15.14) формула бўйича тўлқин узунликларини ҳисоблаб чиқариш мумкин. Дастлаб тўлқин узунликларнни аниқлаш учун кубик системадаги кристаллар ишлатилган эдн, уларнинг текисликлари орасидаги масофалар эса крисгаллнинг зичлиги ва молекуляр оғирлигидан топилган эди.
Лауэ таклиф қилган структуравий таҳлил усулида туташ спектрли рентген нурланиши дастаси қўзғалмас монокристаллга туширилади. Етарли даражада зич атомлар билан қопланган қатламларнинг ҳар бир системаси учун нурланиш таркибида шундай тўлқин узунлиги топиладики, унинг учун (15.14) шарт бажарилади. Шу сабабли кристалл орқасига қўйилган фотопластинкада (кўринадиган қилингач) қора доғчалар тўплами ҳосил бўлади. Доғчаларнинг ўзаро жойлашиши кристаллнинг симметриясини акс эттиради, Доғчалар орасидаги масофа ва уларнинг интенсивлиги бўйича атомларнинг кристаллда қандай жойлашганини ва улар орасидаги масофаларни топиш мумкин бўлади.
2

15.11-rasm.


15.12-rasm.
. Дебай-Шерер методи. Дебай ва Шерер ишлаб чиққан структуравий таҳлил усулида монохроматик рентген нурланиши ва поликристал намуналаридан фойдаланилади. Текширилаётган модда майдаланиб, кукун ҳолига келгирилади ва ундан сим кўринишида намуна прессланади. Намуна цилиндрик камеранинг ўқи бўйлаб ўрнатилади, цилиндрнинг ён сиртига эса фотоплёнка жойлашгирилади (15.11-расм). Жуда куп сонли тартибсиз равишда ориентацияланган кристаллчалар орасида шундайлари ҳам кўп топиладики, улар учун (15.14) шарт бажарилади, шунинг билан бирга, дифракцияланган нур ҳар хил кристаллчалар учун турли-туман текисликларда ётади. Натижада атом қатламларининг ҳар бир системаси ва ҳар бир учун биргина максимум йўналиши ҳосил бўлмай, бундай йўналишларнинг конуси ҳосил бўлади ва бу конуснинг ўқи тушаётган даста йўналиши билан устма-уст тушади (15.11-расм). Плёнкада ҳосил бўладиган манзара (дебаеграмма) 15.12-расмда тасвирланган кўринишда бўлади. Симметрик жойлашган чизиқларнинг ҳар бир жуфти нинг бирор қийматида (15.14) шартни қаноатлантирувчи дифракцион максимумлардан бирига тўғри келади. Peнтгенограммани расширофка қилиш кристаллнинг тузилишини аниклаш имконини беради.