Зайцев в. Н. Комплексообразующие кремнеземы
Download 4.52 Mb. Pdf ko'rish
|
zaitsev
1
2 I, см -1 25 вплоть до 600 С их абсолютная концентрация на поверхности не изменя- ется [107] или даже возрастает до 1.8 групп/нм 2 (рис.1-10) [81]. В ИК спектре кремнезема, прогретого при температуре выше 900 С, интенсивность длинноволнового плеча полосы поглощения при 3747 см -1 падает и центр тяжести полосы смещается к 3750 см -1 . Авторы [112] счи- тают, что такое смещение вызвано увеличением доли силандиольных групп на поверхности при высоких температурах. Косвенное доказатель- ство высокой термостабильности силандиольных групп получено и в ра- боте [90], где анализируются причины снижения степени модифицирова- ния кремнезема, предварительно прогретого при температуре выше 600 С. Авторы связывают это с увеличением доли химически инертных силандиольных групп. Высокая термостабильность геминальных сила- нольных групп подтверждена также результатами изучения ЯМР 29 Si спектров силикагелей, прогретых при 500 С. В спектрах присутствует по- лоса, отвечающая поглощению этих групп [105,109,113]. В работе [50] приводится достаточно интересное наблюдение. Авто- ры, с применением спектроскопии 29 Si ЯМР, исследовали кремнеземы с различной геометрией и природой поверхности: аэросил и силикагели с площадью поверхности 201 и 460 м 2 /г, которые подвергали термовакуум- ной обработке в интервале температур 125 – 700 С. Основной вывод ав- торов состоит в том, что, независимо от температуры и типа кремнезем- ной матрицы, соотношение между силанольными и силандиольными группами постоянно: на каж- дые девять силанольных групп приходится две силандиольные (рис. 1-12). Поэтому наличие силандиольных групп на по- верхности кремнезема при вы- соких температурах можно объяснить не их термической стабильностью, как считали ранее, а существованием рав- новесия между силанольными и силандиольными группами. Рис. 1-12. Корреляция между плотностью силандиольных (SiO 3 H 2 ) и изолированных силанольных (SiO 5/2 H) групп на различных кремнеземах после термовакуумной обработке в разных условиях r 2 = 0.9219 0.02 0.03 0.04 0.05 0.06 0.07 0.08 0.1 0.2 0.3 0.4 содержане SiO 5/2 H со дер ж ан ие Si O 3 H 2 |
Ma'lumotlar bazasi mualliflik huquqi bilan himoyalangan ©fayllar.org 2024
ma'muriyatiga murojaat qiling
ma'muriyatiga murojaat qiling