1-2 Maruza. Atom spektroskopiyasi usullari. Atom-emission spektroskopiya

Aniqlanadigan konsentrasiyalar oralig’i. AES da aniqlanadigan 
konsentrasiyaning yuqori nuqtasi, asosan element chiqarayotgan nurning shu 
elementning boshqa atomlari tomonidan yutilishi bilan chegaralanadi. Darajalash 
grafigining chiziqli bog’lanishini buzilishi ham shu hodisa bilan bog’liq. Elementni 
aniqlash uchun uning moddadagi miqdorini oz yoki ko’pligiga qarab, intensivligi har 
xil bo’lgan chiziqlardan foydalaniladi. Shunday qilib, AES da aniqlanadigan 
konsentrasiyalar oralig’i bir nechta alohida kichik oraliqchalarga bo’linadi va har bir 
oraliqcha bir tartibni, hammasi birgalikda esa 2 - 3 tartibni qoplaydi. Induktiv 
bog’langan plazma bilan ishlaganda «yagona» chiziqli o’zgarish oralig’i 4 - 5 tartib 
konsentrasiyani o’z ichiga olishi mumkin. 
Natijalarning takrorlanishi. AES da analitik signal qo’zg’algan holatdagi 
atomlarning soniga proporsional bo’lganligi uchun u, temperaturaning 
fluktuasiyasiga juda sezgir. Atomlashning eng turg’un manbalari uchun (alanga, IBP) 
r
s
ning kattaligi 0,01 - 0,05 ni tashkil qiladi va bu ko’rsatgich analizning asbobli 
usullari uchun yaxshi takrorlanish hisoblanadi. Lekin, uchqun va ayniqsa yoy 
razryadlari uchun natijalarning takrorlanishi bir muncha yomonroqdir (
r
s
mos 
ravishda 0,05 - 0,1 va 0,1 - 0,2). 
Natijalarning takrorlanishini yaxshilash uchun AES da ichki etalon usuli keng 
qo’llaniladi. AES da ichki standart sifatida namunaning shunday komponenti 
olinadiki, uning miqdori, darajalash grafigini chizish uchun o’lchanadigan hamma 
standart va analiz qilinayotgan namunalarda bir xil bo’lsin. Ko’pincha, bu komponent 
namuna asosini tashkil etuvchi elementning o’zidir (asosning miqdorini hamma 
namunalarda taqriban 100 % deb olish mumkin, masalan, po’latni analiz qilganda, 
ichki etalon sifatida uning asosini tashkil qiluvchi temir olinadi). Namunalarda ichki 
etalon sifatida ishlatishga bop komponenta bo’lmaganda u, hamma namunalarga 
maxsus kiritiladi. Ichki standart usulining mohiyati shundan iboratki, bunda analitik 
signal sifatida aniqlanayotgan element chizig’ining absolyut intensivligi o’rniga, bir 
vaqtda o’lchanadigan aniqlanadigan element (
I
) va ichki standartga tegishli (
0
I
) 
chiziqlar intensivliklarining nisbati 
0
/ I
I
ishlatiladi. Bunday chiziqlar juftiga