Kompozit materiallar tuzilishini IQ-spektroskopiya usuli bilan o‘rganish
IQ spektroskopiyasi -bu spektrning infraqizil oblastida spektrlarning chiqishini, yutilishi va aks etishini o‘rganadigan spektroskopiya bo‘limi. IQ spektrlari (SHIMADZU IRAFFINITI1 qurilmasi, Yaponiya) qalinligi taxminan 10 mkm bo‘lgan kompozit namunalari plyonkalarida yozildi.
Skanerlovchi elektron mikroskop. Sirt morfologiyasi va tolalari mikrosturukturalar tekshiruvi SEM-EVO MA 10 (Carl Zeiss, Germaniya) skanerlash elektron mikroskopi yordamida amalga oshirildi, strukturalarning tarkibi Energy-Dispersive X-rayspektrometr (EDS - Oxford Instrument) markasining energiya dispersiyasi element analizatori yordamida aniqlandi. Ushbu qurilma strukturaning mikroskopik tahlili va sirtdagi nuqsonlari va mahalliy element tarkibini aniqlash uchun mo‘ljallangan. Skanerlovchi elektron mikroskopda tajribalar quyidagicha amalga oshirildi. Namuna tayyorlash jarayonini amalga oshirish uchun mikroskop slayd stoliga alyuminiy falga yopishtirilgan metall qotishma ushlagichi o‘rnatildi.Namuna shu falga qog‘ozga yopishtirilib, so‘ngra buyum stoli mikroskopning ishchi kamerasiga o‘rnatilib, undan vakuum hosil qilish uchun havo so‘rib olindi. O‘lchashni bajarish uchun filamentga tezlashtiruvchi kuchlanish kerakli kv qo‘llanilgan. Bunday holda, ish masofasi (working distance) 8,5mm edi [75; 10-27b].
Atom-kuchlari mikroskopiyasida kontirlovchi nur ustiga vertikal o‘rnatilgan ingichka igna orqali yuzada Van-der-Vaals kuchlari yoki elektrostatik tortish/itarilish o‘lchanadi. Sodda qilib aytganda bu metod atomlarning tortilish yoki itarilish kuchlarini namuna yuzasida o‘rganishga mo‘ljallangan. Kontilevrni tashuvchi nurning uchiga lazer nuri yo‘naltirilib, sirtda aks ettiriladi va to‘rtta sektorga bo‘lingan yozuv qurilmasining markaziga kiradi. Kontilevar-sirt o‘zaro ta’sir kuchining o‘zgarishiga qarab, zondni ushlab turadigan nur egilgan va lazer nurlari detektor sektorlaridan birida markaziy pozitsiyadan chetga chiqadi. Qaytarma aloqa tizimi kantilevrning holatini o‘zgartirib, uni (va lazerni ham) “nol” markaziy holatga qaytaradi va shu holatda ishlaydi. Shunday qilib, lazerni “nol” nuqtaga qaytarish uchun zarur bo‘lgan kantilverning o‘zgarishini qayd qilib borib, tizim sirt morfologiyasini(topologiya) o‘lchaydi [76; 32-40b, 77; 930-933b]. Modifikatsiyalangan polimerlar sirtida olib borilgan mikroskopiya usulida nafaqat nanostrukturalarning shakli yoki o‘lchamini o‘rganish, balki namunaning elektrokimyoviy xossalariga ham ta’sir ko‘rsatkanligini o‘rganish imkonini beradi.
Do'stlaringiz bilan baham: |
