Mass-spektrometrik analiz usullari

 
34.7
-§. 
 Analitik xarakteristikalari 
Izobar xalaqitlarning, ayniqsa 
z
m /
< 80 qiymatlar uchun mavjudligi 
IBP lik mass-spektrometriya uchun cheklov bo’ladi. 
IBP lik mass-spektrometriya qayta takrorlanish (birnecha foizdan 
yaxshi), natijalarning to’g’riligi, aniqlanuvchi elementlarning soni, 
aniqlash chegarasi va unumdorlik kabi metrologik ko’rsatgichlarni 
birgalikda maqsadga muvofiq bo’lishini ta’minlaydi. Aniqlash chegarasi 
1–10 ng/l darajasida bo’lishi mumkin. Lekin, tuzli konsentrasiyaning 
cheklanganligi sababli (namuna olgich konusi tirqishining tiqilib 
qolmasligining oldini olish uchun odatda konsentrasiya 0,1 g/l dan ko’p 
bo’lmasligi kerak) qattiq namunalar uchun aniqlash chegarasi 10–100 
mlrd
-1
oraliqda yotadi. Umuman olganda, eritmalar uchun aniqlash 
chegarasi IBP lik atom-emission spektrometriyaga qaraganda 10–1000 
marta yaxshi. Shuning uchun ham IBP lik MS usuliga qiziqish nihoyatda 
katta. Hozirgi vaqtda IBP lik kvadrupol mass-spektrometrning asosiy 
kamchiligi Ar hosil qiladigan molekulyar zarrachalar hisobiga paydo 
bo’ladigan izobar (masalan, 
40
Ar
16
O
+
va 
56
Fe
+
, 
40
Ar
35
Cl
+
va 
75
As
+
, 
40
Ar
40
Ar
+
va
80
Se
+
) xalaqitlarning mavjudligidir. Bu kamchilik ushbu 
usulni 
z
m /
80 dan kichik bo’lgan qiymatlar uchun qo’llashni 
qiyinlashtiradi. Shuningdek, izobar xalaqitlar turg’un oksidlar hosil 
qiluvchi elementlar (Ca, Ti, Zr, La, Ta, kam uchraydigan elementlar va 
hokazo) uchun ham kuzatiladi, masalan 
47
Ti
16
O
+
va
63
Cu
+
, yoki ikki 
zaryadli ion hosil qiluvchi elementlar (Ca, Ba, U va boshq.) masalan,

---

138
Ba
2+
va
69
Ga
+
. Ajratib ko’rsatish qobiliyati katta bo’lgan mass-
spektrometrlarni ishlatish hisobiga izobar xalaqitlar muammosini qisman 
hal qilish mumkin. Ajratib ko’rsatishi 5000 bo’lgan mass-
spektrometrning kuchi 
40
Ar
16
O
+
va
56
Fe
+
izobar ionlarni ajratish uchun 
yetadi. IBP lik MS lar izotoplarni o’lchash uchun ham ishlatiladi.
Agar IBP lik MS asosan eritmalarni analiz qilish uchun ishlatilsa, 
lazer bilan indusirlangan plazma IBP bilan birga qattiq namunalarni 
to’g’ridan to’g’ri analiz qilish uchun ishlatiladi. Atmosfera bosimida 
mikroplazma hosil bo’ladi va namunani lazer ablyasiya qilish amalga 
oshadi. Mayda zarrachalar IBP da bug’latish, atomlash va ionlashtirish 
uchun argon oqimi bilan tashiladi. 
Uchqun manbalik MS usuli bilan katta sondagi elementlarni 
aniqlash mumkin. Lekin, analiz natijalarining, ionlashtirish jarayonining 
turg’un emasligi va namunaning bir jinsli bo’lmasligi bilan bog’liq 
bo’lgan takrorlanishi yomon bo’lganligi uchun uchqun manbai asosan 
sifat va yarimmiqdoriy analizlar o’tkazishda ishlatiladi. Bu usulning 
ko’pchilik elementlar uchun aniqlash chegarasi 1–10 mlrd
-1
oraliqda 
yotadi. Qayd qilish uchun fotoplastinkaning ishlatilishi usulning 
kamchiligi hisoblanadi. Shularni hisobga olganda ham, qattiq 
namunalarni analiz qilganda erishiladigan aniqlash chegaralari, uchqun 
manbaining eng yaxshi xarakteristikalaridan biri hisoblanadi. Norganik 
mass-spektrometriyaning boshqa usullari kabi UMMS usuli ham, 
molekulyar zarrachalarning hosil bo’lishi hisobiga izobar xalaqitlarga 
uchraydi. Usulning unumdorligini past deb hisoblash mumkin. Bu esa 
fotoplastinka ishlatish bilan bog’liq. Fotoplastinka ishlatilganda dinamik 
diapazon cheklanadi hamda plastinkani qayta ishlashga va o’lchashga 
ko’p vaqt ketadi.