Mass-spektrometrik analiz usullari

Induktiv bog’langan plazmada sodir bo’ladigan jarayonlar. 
Analiz qilinayotgan namunaning aerozoli gorelkaning injektori orqali 
plazmaning markaziy qismiga tushadi. Dastlab erituvchi, keyin yuqori 

---

temperaturaning ta’siri ostida namunaning tarkibidagi moddalar 
bug’lanadi, atomlarga dissosiasiyalanadi va musbat zaryadlangan ionlarni 
hosil qilib ionlanadi.
Plazmada ionlanishdan tashqari boshqa jarayonlar ham kechadi, 
masalan, ionlar va atomlarning bir-biri bilan o’zaro ta’siri natijasida 
yarimatomli ionlar hosil bo’lishi, ikki zaryadli ionlarning hosil bo’lishiga 
olib keluvchi ikkilamchi ionlanish, molekulaning qayta hosil bo’lishi 
(rekombinasiya) va hokazo jarayonlar. Bu jarayonlar ko’pincha 
namunaning tarkibiga va tajribaning shart sharoitlariga bog’liq. Masalan, 
suvli eritmalarni analiz qilganda oksid ionlari hosil bo’ladi (plazmada 
kislorod asosan suvning parchalanishi natijasida paydo bo’ladi).
Begona (xalaqit beruvchi) ionlarning (oksidlar, gidridlar, ikki 
zaryadli ionlar va hokazo) hosil bo’lishi IBP lik mass-spektrometriyaning 
asosiy muammosi hisoblanadi, chunki analit signallarining ustiga xalaqit 
beruvchi ionlar signallarining tushishini ta’minlaydi (interferensiya). 
IBP lik mass-spektrometrning interfeys qismi. Ionlarning tarkibini 
aniqlash maqsadida gaz molekulalari bilan ularning to’qnashmasligini 
ta’minlash uchun ionlar oqimi bilan bo’ladigan hamma amallar yuqori 
vakuum sharoitida olib boriladi. Ionlar oqimini bosimi 0,1 bar ga yaqin 
bo’lgan plazmadan, mass-spektrometrning bosimi 10
-5
–10
-7
mbar ni 
tashkil etuvchi vakuum qismiga ko’chirishni asbobning interfeys deb 
ataluvchi qismi bajaradi. Umumiy holda IBP lik MS ning interfeys qismi, 
bir-biridan 1 sm ga yaqin masofada va teshiklari bir o’qda joylashgan 
voronka shaklidagi ikkita konusdan iborat bo’ladi (34.5-rasm). Konuslar 
nikel yoki platinadan tayyorlanadi va suv bilan sovutiladigan metall 
asosga o’rnatiladi. 
(a) (b) 

---

34.5-rasm. IBP lik MS interfeys qismining sxematik tasviri (a) va IBP lik Thermo 
Scientific XSeries 2 mass-spektrometrning namuna oluvchi konusining rasmi (b).
Gorelkadan otilib chiqayotgan plazmaning markaziy kanali birinchi 
konusning teshigi bilan mos tushadi ya’ni ular bir o’qda (chiziqda) 
joylashgan. Plazma bilan aloqada bo’lgan konus namuna oluvchi yoki 
sampler deb ataladi. Sampler markaziy teshigining o’lchami asbobni 
ishlab chiqqan shirkatga qarab 0,5–1,0 mm orasida bo’ladi. Ko’rinib 
turibdiki, plazma issiqligining katta qismi sampler tomonidan yutiladi, 
shu munosabat bilan IBP lik MS larning hammasida konus 
mahkamlanadigan metall asosni yuqorida aytilgandek suv bilan sovutish 
ko’zda tutilgan. 
Gaz-ion oqim samplerning teshigidan o’tib oraliq kengaytiruvchi 
kameraga keladi. Bu kamera forvakuum nasosga ulangan. Oraliq 
kameradagi bosim IBP lik MS ning ish jarayonida taqriban 1–2 mbarni 
tashkil etadi. Oqimning tovushdan katta tezlikka ega bo’lgan markaziy 
qismi skimmer deb ataluvchi ikkinchi konusning teshigiga kiradi. 
Skimmer markaziy teshigining o’lchami asbob ishlab chiqaruvchi 
shirkatga qarab 0,4–0,7 mm ni tashkil etadi.